高精度大量程涂層測(cè)厚儀EC770X雙用型測(cè)量范圍:.0 0~5000um/3000um 測(cè)量范圍: F3.0 0~3000um N3.0 0~3000um 測(cè)量誤差:磁感應(yīng) ±(2%+1um) 渦流 ±(2%+1um) 分辨率:0um~99.9um (0.1um),100um~999um (1um), 1000um~3000um (0.01mm) 測(cè)量原理:定制探頭,磁感應(yīng)+渦流效應(yīng) 高精度大量程涂層測(cè)厚儀EC770X雙用型測(cè)量范圍:.0 0~5000um/3000um