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技術(shù)文章

四探針解決方案
                                                                             四探針解決方案

                                   無錫尚德太陽能電力有限公司-四探針測試儀軟件測試系統(tǒng)專用版本1.0


                                                              薄膜方塊電阻測試的*佳方案
    所有的四探針測試儀都適合用來測量薄膜的方塊電阻如果被測的樣品在儀器的方塊電阻測量范圍內(nèi)。不過對于薄膜樣品測試方塊電阻推薦使用RTS-5、RTS-9雙電測四探針測試儀，采用雙電測四探針測試方法在搭配我司專用于測試薄膜的四探針探頭，此四探針測試探頭球形探針（探針針尖曲率半徑0.5mm或0.75mm，探針間距1.6mm或3.8mm）鍍金探針，有效接觸被測材料及保護(hù)薄膜不被損傷、刺穿；
    雙電測四探針測試方法是采用了四探針雙位組合測量新技術(shù)，將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上，利用電流探針電壓探針的變換，在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測量，把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響。
 
HP系列球形鍍金探針?biāo)奶结槣y試探頭


                                  CV-2000電容電壓特性測試儀搭配ST-102A探針臺(tái)應(yīng)用于半導(dǎo)體分立器件工藝監(jiān)測方案
變?nèi)荻O管、三極管、硅微克風(fēng)等電子器件通常都在一定的直流偏置電壓下才能工作，所以在一定偏壓下測量其電容變化可以判斷器件的質(zhì)量及工藝線存在的問題。器件完成管芯后，結(jié)合我司的CV-2000電容電壓特性測試儀及ST-102A探針臺(tái)（中測臺(tái)），可及時(shí)判斷工藝過程中存在的問題，并有效防止封裝后測試才能發(fā)現(xiàn)的隱患，節(jié)省了大量人工材料成本。

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樂清市卓盛儀器儀表有限公司
樊軍飛   

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