微分干涉（DIC）觀察法
DIC 是一種顯微觀察技術(shù)，可以將明視場(chǎng)觀察法中無(wú)法檢測(cè)到的高度差異，用增強(qiáng)的對(duì)比度以浮雕或三維圖像的形式表現(xiàn)出來(lái)。該項(xiàng)基于偏振光的技術(shù)，擁有三個(gè)專門設(shè)計(jì)的棱鏡可供選擇以滿足用戶的需求。該觀察法適用于檢測(cè)高度差異極其微小的樣本，包括金相組織、礦物、磁頭研磨面和硬盤表面及晶圓研磨面。
金相顯微鏡/半導(dǎo)體顯微鏡/LCM檢查顯微鏡
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