液晶單元的電容特性測量:電容-電壓(C-Vac)特性是評價液晶材料性能的主要方法,常規(guī)儀器測量液晶單元的C-Vac特性遇到一個問題是*大測試電壓不夠。使用TH10301選件可提供分辨率為1%及*高達20Vms的可編程測試信號電平,使它能在*佳條件下進行液晶材料的電容特性測量。
LCR數(shù)字電橋半導體材料和元件的測量:進行MOS型半導體制造工藝評價時,需要氧化層電容和襯底雜質密度這些參數(shù),這些可從C-Vdc特性的測量結果推導出來。20HZ-1 MHz的測量頻寬及高達40VDC的可編程偏置電壓方可方便地完成C-VDC特性的測量。為了測試晶圓上的半導體器件,需要延伸電纜和探頭,儀器的2m/4m延伸電纜選件可將電纜延伸的誤差降至*小。各種二極管、三機管、MOS管的分布電竄也是本儀器的測試內容。
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