產品關鍵詞：單晶硅片/硅片測厚儀、單晶硅片測厚儀、單晶硅片厚度檢測儀器、單晶硅片厚度測量儀器、單晶硅片厚度測試儀

Labthink蘭光的CHY-CA改款型測厚儀，可用于單晶硅片厚度的檢測，測試分辯率高達0.1微米，完全滿足單晶硅片對厚度高精度測試的要求；同時測試幅面寬度可以達到400mm，完全滿足單晶硅片整個幅面厚度測試的要求。CHY-CA改款型測厚儀除了具備高精度、高效率等特點外，還采用測量樣品自動前進驅動系統，大大提高了測試效率，充分滿足用戶連續(xù)高效測試的要求，并配有專業(yè)軟件支持，操作方便、人機交互友好。
1、 結構組成
CHY-CA改款型測厚儀主要由控制系統、測量系統、打印輸出系統三部分組成。測量系統對薄膜進行測量，并輸出相應電信號；控制系統用以參數的設定、修改、傳輸信號的處理、測量結果的顯示等；打印輸出系統的功能是統計結果的輸出，打印試驗結果。
2、 功能原理
CHY-CA改款型測厚儀采用目前世界測量領域*先進的技術成果，確保測量結果的高**性，多次測量結果的高度一致性；且操作調試極其方便，幾近于自動化操作，*大限度地減少了人為因素對測量結果帶來的影響；并具有手動、自動兩種測量模式，對于手動模式測量，可打印輸出測量結果，對于自動模式測量，可按照預先設置好的次數自動測試，并對測量結果進行統計、分析、打印輸出；接觸面積、測量壓力、移動速度等嚴格遵循相關標準的規(guī)定。

如欲了解更詳細信息，歡迎致電濟南蘭光機電技術有限公司（）垂詢。

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