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產(chǎn)品資料

費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀

費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀
  • 如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以
  • 產(chǎn)品名稱:費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀
  • 產(chǎn)品型號:FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237
  • 產(chǎn)品展商:德國菲希爾fischer
  • 產(chǎn)品文檔:無相關(guān)文檔
簡單介紹
費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測試儀/射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型射線熒光材料分析及鍍層測厚儀。它尤其適合在自動化測量應(yīng)用中無損測量超薄鍍層厚度和分析材料。FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀配備可編程運行XY軸工作臺及Z軸升降系統(tǒng),全自動測量超薄鍍層厚度和分析材料成分。
產(chǎn)品描述
費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測試儀/射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:

?  分析小于 的超薄鍍層

?  測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

?  測定復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng)

?  全自動測量,如在質(zhì)量控制領(lǐng)域

?  分析焊錫中鉛含量

?  配備可選的 SDD 探測器:可測量鎳磷中的磷含量


費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測試儀/射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237設(shè)計理念:

FISCHERSCOPE X-RAY  XDAL237是一款界面友好的臺式測量儀器。它裝備了高精度,可編程運行的 工作臺和電調(diào)的軸升降系統(tǒng),是進行自動測量的理想儀器。當(dāng)保護門開啟時,工作臺會自動移到放置樣品的位置。通過激光光點,可以輔助定位并快速對準(zhǔn)測量位置。高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能,可以精-確定位測量位置。通過視頻窗口,還可以實時觀察測量過程和進度。位置的精-確微調(diào)可以直接手動調(diào)整儀器或搖桿,或通過操作鼠標(biāo)和鍵盤來實現(xiàn)。測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計,由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如:大型的印制電路板。所有的操作,測量數(shù)據(jù)的計算,以及測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示都是通過強大而界面友好的 軟件在電腦上完成的。

XDAL型鍍層測厚及材料分析儀作為受完全保護的儀器,型式許可符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規(guī)規(guī)定。


為了使每次測量都在*佳的激發(fā)條件下進行,費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測試儀/射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237配備了可電動切換的多個準(zhǔn)直器和基本濾片。*新的半導(dǎo)體探測器能夠達到很高的分析精度及探測靈敏度。型 射線熒光材料分析及鍍層測厚儀有著良好的長期穩(wěn)定性,這樣就大大減少了重新校準(zhǔn)儀器的需要,為您節(jié)省時間和精力。由于采用了基本參數(shù)法,無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進行分析和測量。從元素鋁( )到鈾( ),*多可同時測定種元素。尤其適合測量和分析超薄鍍層,即使是十分復(fù)雜的成分構(gòu)成或是十分微小的成分含量都不成問題。儀器配備高速可編程運行的 平臺,它是質(zhì)量控制和生產(chǎn)監(jiān)控的自動測量過程的*合適的測量儀器。


費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測試儀/射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237詳細(xì)參數(shù)規(guī)格:

1、通用規(guī)格

設(shè)計用途:能量色散X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀 用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu),分析合金和微量組分。

形式設(shè)計:臺式儀器,測量門向上開啟可編程的工作臺和電調(diào)的軸馬達驅(qū)動的可更換的準(zhǔn)直器和基本濾片

視頻攝像頭和激光點(類)定位測量點。

測量方向:從上到下。

2、X 射線源

X射線管:帶鈹窗口的微聚焦管

高壓、三檔:10、30、50KV

孔徑(準(zhǔn)直器) 4個可切換準(zhǔn)直器:圓形;長方形、可按要求定制其它規(guī)格。

基本濾片:3 種可切換的基本濾片(標(biāo)準(zhǔn)配置:鎳,鋁,無)

測量點:取決于測量距離及準(zhǔn)直器大?。辉谝曨l窗口中顯示實際的測量點大小。*小的測量點大小約為0.15mm直徑。

測量距離:0-80mm、在不同距離使用磚利 簡化方法的距離補償測量。如果是特定的應(yīng)用程序或更高的校準(zhǔn)精度要求,校正是必要的。

3、X射線探測

標(biāo)準(zhǔn):x射線接收器采用珀耳帖法冷卻的半導(dǎo)體探測器、能量分辨率小于等于200eV、元素范圍硫為S(16)到到鈾U(92)

可選 SDDx射線接收器采用珀耳帖法冷卻的硅漂移探測器、能量分辨率小于等于160eV、元素范圍為鋁AL(13) 到鈾U(92)

4、樣品定位

視頻系統(tǒng):高分辨率 彩色攝像頭,沿著初級射線光束方向觀察測量位置手動聚焦,對被測位置進行監(jiān)控

十字線(帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點尺寸)、可調(diào)節(jié)亮度的照明、激光光點用于精-確定位樣品。

放大倍數(shù):40*-160*

5、工作臺

快速,電機驅(qū)動,可編程的X/Y工作臺

*大移動范圍          XY方向:255mm*235mm ; Z:140mm

Xy平臺*快移動速度    80mm/s

xyz移動重復(fù)精度       小于等于0.01mm(單向)

可用樣品放置區(qū)域      長寬:300mm*350mm

樣品*大重量          5kg,降低精度要求情況下可達20kg

樣品*大高度          140mm

6、電氣參數(shù)

電源要求 交流220v、50HZ

功耗 *大 120W(不包括計算機)

保護等級IP40

7、尺寸規(guī)格

外部尺寸寬深高 570*760*650

重量約115kg

內(nèi)部測量室尺寸寬深高:460*495*146

8、環(huán)境要求

使用時溫度:10-40攝氏度

存儲或運輸時溫度:0-50攝氏度

空氣相對濕度 ,小于等于95%、無結(jié)露

9、計算單元

計算機:帶擴展卡的計算機系統(tǒng)

軟件:標(biāo)準(zhǔn): 包含fischer winFTM BASIC 包含PDM;可選:fischer winFTM SUPER

10、執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)

CE合格標(biāo)準(zhǔn):EN61010

X射線標(biāo)準(zhǔn):DIN ISO 3497ASTM B 568

型式批準(zhǔn):作為受完全保護的儀器

型式許可完全符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規(guī)的規(guī)定。

11、費希爾x射線熒光光譜鍍層材料分析儀/x-ray厚度測試儀/射線鍍層厚度檢測儀FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237訂貨號

標(biāo)準(zhǔn)半導(dǎo)體探測器 604-348

可選SDD探測器 605-567

如有特殊要求,可與fischer磋商,定制特殊的XDAL型號。

其他測試儀器:高強度紫外線燈、鐵素體含量檢測儀。


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