電解式鍍層膜厚儀GalvanoTest 2000含支架,RS-232口,三種電解液,有統(tǒng)計功能。
電解式鍍層膜厚儀GalvanoTest 2000根據(jù)相應(yīng)的電解液可測實(shí)際應(yīng)用的所有鍍層,利用庫侖電量分析原理,測量鍍層、多層鍍層,GalvanoTest 200符合標(biāo)準(zhǔn):DIN EN ISO 2177。
電解式鍍層膜厚儀GalvanoTest 2000功能表(測量表示有此功能):
庫侖鍍層測厚儀GALVANOTEST 2000可以測量
功能
可以測量70種以上鍍層/基體組合
測量
可以測量平面、曲面上的鍍層
可以測量小零件、導(dǎo)線、線狀零件
預(yù)置10種金屬的測量參數(shù):Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘、Au金(需提供樣品確定)
無
預(yù)置9種金屬的測量參數(shù):Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。
用戶可另設(shè)置8種金屬的測量參數(shù)
用戶可另設(shè)置1種金屬的測量參數(shù)
庫侖鍍層測厚儀測量機(jī)構(gòu):
/
帶循環(huán)泵
帶氣泵
電解式鍍層膜厚儀GalvanoTest 2000、庫侖鍍層測厚儀測量面積:
密封墊 8 mm2
密封墊 4 mm2
密封片 1 mm2
密封片 0.25 mm2(涂鍍層面積幾乎小得看不見)
電解杯 0.25-16 mm2 (可選件)
庫侖鍍層測厚儀測量參數(shù)優(yōu)化調(diào)整:
除鍍速度0.3-40 μm/分鐘可調(diào)
根據(jù)金屬和測量表面可直接調(diào)整系數(shù)
可用厚度標(biāo)準(zhǔn)樣板校準(zhǔn)
可調(diào)整終點(diǎn)電壓,以抗干擾,適應(yīng)鍍層/基體之間的合金
電解式鍍層膜厚儀GalvanoTest 2000的數(shù)據(jù)存儲
可存儲不同金屬測量參數(shù)的數(shù)目
10
可存儲的讀數(shù)和統(tǒng)計值
2000
儀器斷電后可保持所有校準(zhǔn)值、讀數(shù)、統(tǒng)計值。
庫侖鍍層測厚儀統(tǒng)計計算:
顯示6種統(tǒng)計值:均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、變異系數(shù)、大、小值、讀數(shù)個數(shù)
立即或稍后顯示統(tǒng)計值
立即或稍后打印讀數(shù)和統(tǒng)計值
顯示、打印年、月、日、時、分
用于外設(shè)的計算機(jī)接口:
MINIPRINT 微型打印機(jī)接口
RS-232,PC計算機(jī)接口
連接x-t計錄儀模擬電壓輸出接口
電解液飽和報警指示
測量的不確定性:
5%,在8mm2面積下,經(jīng)校準(zhǔn)
庫侖鍍層測厚儀電源:
110/220V,50/60HZ,10W
電解式鍍層膜厚儀GalvanoTest 2000測量范圍:
大測量范圍:0.05-75μm
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