德國菲希爾X射線熒光分析儀XDLM237和XDAL237SDD主要性能對比
	  菲希爾公司FISCHER品牌的x-ray鍍層厚度檢測及材料分析儀是業(yè)內(nèi)的標(biāo)桿產(chǎn)品,在全球有著廣泛的客戶和良好的聲譽(yù)。FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM 237 X射線鍍層厚度測試儀及材料分析儀采用手動(dòng)或自動(dòng)方式,測量和分析微小結(jié)構(gòu)的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL 237 SDD X射線鍍層厚度測試儀及材料分析RoHs檢測儀,配備可編程運(yùn)行XY工作臺及Z軸升降系統(tǒng),全自動(dòng)測量超薄鍍層厚度和分析材料成分。兩者主要電器參數(shù)對比如下表: 
	                                                                                             
	
		
			
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						機(jī)型                      Model 
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						FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM 237 
					 
						X射線鍍層厚度測試儀及材料分析儀 
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						FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL 237 SDD 
					 
						X射線鍍層厚度測試儀及材料分析RoHs檢測儀 
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						備注                                                    Remark 
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						測量元素范圍       Element Range 
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						Cl(17)-U(92) 
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						Al(13)-U(92) 
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						XDAL237 SDD的測量元素范圍更大,可以測P磷等元素 
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						分析軟件                Software 
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						WinFTM(V6 LIGHT)                                    可*多同時(shí)測量4層鍍層,5種元素,在選配BASIC時(shí)可測23層鍍層,24種元素                                                     
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						WinFTM(V6 BASIC)                                           可*多同時(shí)測量23層鍍層,24種元素                                     
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						XDLM237的主要應(yīng)用為鍍層厚度的測量,XDAL237SDD不但在測厚方面更具優(yōu)勢,可測量納米級鍍層;并且可以做精-確的材料分析以及RoHs痕量分析。XDAL237 SDD 標(biāo)配 Basic版軟件 
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						X射線發(fā)生裝置               X-Ray Tube 
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						W靶微聚焦射線管                                               
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						W靶微聚焦射線管                                                 
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						高壓                High voltage  
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						三種可調(diào)高壓:30 kV,40
  kV,50 kV                              
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						三種可調(diào)高壓:10 kV,30
  kV,50 kV                          
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						10kV的電壓可用于測量能量更低的元素(例如:P磷等) 
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						準(zhǔn)直器              Aperture (Collimator) 
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						4個(gè)可切換準(zhǔn)直器(?0.1/?0.2/0.05x0.05/0.2x0.03mm)                                               
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						4個(gè)可切換準(zhǔn)直器(?0.1/?0.3/?0.6/?0.5*0.15mm)                    
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						XDAL237配備了更大的0.6mm準(zhǔn)直器,使得測量大樣品和RoHS的應(yīng)用時(shí),大大提高精度。 
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						測量點(diǎn)大小   Measurement spot size 
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						約 ? 0.1 mm                                           
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						約 ? 0.15 mm                                           
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						X射線接收器              X-ray detector 
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						比例接收器  FWHM≤900eV                                        
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						硅漂移SDD半導(dǎo)體探測器 FWHM≤160eV                       
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						XDAL237 SDD配備*的SDD硅漂移接收器,有更高的能量分辨率。頻譜上相鄰元素之間干擾更小,精度更高。并且可進(jìn)行痕量分析(可滿足RoHS的應(yīng)用)。 
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						濾波片                Primary filter 
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						3 種可切換濾片 (鎳/鋁/無)                                            
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						3 種可切換濾片 (鎳/鋁/無)                                            
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						放大倍數(shù)                   Zoom factor 
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						40X-160X 
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						40X-160X 
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						樣品臺尺寸               Usable sample placement area 
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						300 × 350 mm 
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						300 × 350 mm 
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						移動(dòng)方式                  Travel Mode 
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						電動(dòng)可編程                                               
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						電動(dòng)可編程                                               
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						可移動(dòng)范圍                  Maximum travel XY 
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						255*235mm 
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						255*235mm 
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						Z軸                      Z-axis 
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						可編程運(yùn)行                                              Programmable 
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						可編程運(yùn)行                                              Programmable 
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						隨機(jī)元素片                Pure Element 
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						12純元素片:(Ag,Cu,Fe,Ni,Zn,Zr,Mo,Sn,W,Au,Pb,Cr)         12 Pure Element 
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						14純元素片:(Ag,Cu,Fe,Ni,Zn,Zr,Mo,Sn,W,Au,Pb,Cr,Ti,S) 14 Pure Element 
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 以上德國菲希爾X射線熒光分析儀XDLM237和XDAL237SDD主要性能對比表中紅色字體為差異體現(xiàn)。XDLM237機(jī)型雖然在性能上與XDAL237SDD有不及的地方,但因其相對低廉的價(jià)格和同樣不俗的性能使得XDLM237成為菲希爾x射線材料厚度分析儀中的主流暢銷機(jī)型。
	其他檢測儀器:超聲高溫耦合劑、鐵素體含量檢測儀。