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涂鍍層測厚儀的測量原理
涂鍍層測厚儀的測量原理
常規(guī)便攜式的涂鍍層測厚儀的測量原理有兩種：電磁感應(yīng)法和電渦流法。
電磁感應(yīng)法是當(dāng)磁性金屬表面覆蓋有非磁性金屬或絕緣層( 如鋼件上的鍍鉻層或油漆層) 時(shí), 同樣可以利用電磁感應(yīng)方法來測量其厚度。當(dāng)線圈中通過激勵(lì)電流時(shí), 檢測線圈和磁性基體之間建立了磁通路, 由于線圈和磁性基體之間間隙的變化( 即非磁性膜層厚度的影響) , 會(huì)改變磁路的磁陰, 并引起磁路中磁通量的變化, 因此, 只要通過檢測線圈上感應(yīng)電壓的測量, 得出感應(yīng)電壓與間隙( 即膜厚) 的定量關(guān)系曲線, 再將其標(biāo)記在指示儀表的表盤上, 以后便可直接從指示儀表上讀出膜層的厚度。
電渦流法是測量金屬薄板厚度時(shí), 檢測線圈既可以采用反射法也可以采用透射法。反射法是探頭的發(fā)射與接收線圈在被測體的同一側(cè), 所接收的信號是阻抗幅度變化信號, 材料厚度的變化對接收線圈阻抗變化呈非線性關(guān)系。因此, 要求在測量儀器內(nèi)部實(shí)現(xiàn)非線性校正, 所以, 會(huì)產(chǎn)生較大的測量誤差。透射法是根據(jù)探頭線所產(chǎn)生的渦流場分布情況, 即在不同深度下渦流相位滯后程度隨深度增加而增大, 根據(jù)接收信號與激勵(lì)信號之間的相位差直接得到被測材料厚度值, 無需進(jìn)行非線性校正。
總的來說厚度測量的應(yīng)用主要有兩個(gè)方面: 金屬基體上膜層厚度的測量和金屬薄板厚度的測量。非磁性金屬上絕緣層厚???的測量, 是渦流測厚的一個(gè)重要應(yīng)用領(lǐng)域。由于非磁性金屬均為導(dǎo)電率較高的有色金屬, 所以, 測量其表面絕緣層厚度實(shí)質(zhì)上是測量探頭線圈到基體金屬的距離。為了抑制基體金屬電導(dǎo)率變化對測量結(jié)果的影響, 一般都選用較高的檢測頻率, 此時(shí), 基體電導(dǎo)率對電感分量的影響可以忽略, 而對電阻分量的影響仍較為顯著。又由于電感分量主要受距離變化的影響。電阻分量主要受電導(dǎo)率變化的影響, 因此, 只要從電路上將探頭阻抗變化信號的電感量取出, 再進(jìn)行調(diào)零和校正, 就可測量出絕緣層厚度的變化。
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