菲希爾xulm240型X射線測厚儀技術(shù)規(guī)格

FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240是一款性能卓-越、設(shè)計緊湊、應(yīng)用廣泛的X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。由先前的XULM-xym換代而來。常用于無損測量細小工件上的鍍層厚度和材料分析。特別適合在質(zhì)量管控，來料檢驗及生產(chǎn)過程控制中測量使用。

典型應(yīng)用領(lǐng)域比如：

1、對十分微小零部件、接插件和線材的鍍層測量

2、印刷電路板上進行手動測量

3、對珠寶和手表業(yè)中需求的測量

Fischer xulm 240 X射線熒光鍍層測厚儀的比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。如同所有的Fischerscope x-ray儀器一樣，本款儀器有著出色的精-確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣顯著減少了校準儀器所需要的時間和精力。依靠菲希爾Fischer公司的完全基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固態(tài)和液態(tài)的成分以及測量樣品的鍍層厚度。Fischer xulm 240x射線鍍層測厚儀配備了微聚焦x射線管以及可電動切換的視準器和基本濾片，因此更適合對微小型工件進行測量。

X射線鍍層測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240基本技術(shù)規(guī)格：

1、單性金屬鍍層厚度測量。

2、合金鍍層厚度測量。

3、雙鍍層厚度測量。

4、雙鍍層（其中一層是合金）厚度測量。

5、三鍍層厚度測量。

6、測量小區(qū)域：*小的測量點大小約0.09x0.09 mm。

6、測量厚度精度：當Au厚度大于0.1μm時，有標準片校準情況下<±5%,無標準片校準情況下<±10%。

測量厚度精度=（測試10次的平均值-真值）÷真值×（真值為校驗標準片證書顯示值，測試點為同一點）

儀器波動率：COV＜5% 。

COV=（S/10次平均值）×（其中S為標準偏差）

標準偏差S==

8、其他功能：用X-RAY測厚儀能分析多達四種金屬成分的合金，包括金的開數(shù)分析。

9、用X-RAY測厚儀可同時測定*多5種不同元素。

10、測定元素種類范圍：X-RAY測厚儀可測定原子序數(shù)從17-92的元素（元素

含量要求達到1%以上）。

11、量軟件及使用計算機

X-RAY測厚儀配置軟件：Win FTM。

計算機配置：HP品牌機，500G硬盤，8G內(nèi)存，24”液晶顯示器（HP品牌）。

統(tǒng)計功能：具備統(tǒng)計及SPC功能。輸入統(tǒng)計參數(shù)，便可制作比例圖，累積

率圖并分別顯示鍍層厚度及含量等資料。

打印功能：只要接上打印機，就能將報告打印輸出。菲希爾xulm240型x射線測厚儀技術(shù)規(guī)格如上，更多技術(shù)支持隨時聯(lián)系我們。