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技術(shù)文章

高頻機(jī)介質(zhì)損耗測(cè)試儀的測(cè)試法
高頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀是利用諧振法的原理來(lái)測(cè)量介質(zhì)材料的介質(zhì)常數(shù)和損耗角正切的精密儀器。它利用導(dǎo)納變化時(shí)，回路諧振曲線所呈現(xiàn)出的尖銳程度來(lái)衡量介質(zhì)的電物理性質(zhì)。由于測(cè)量時(shí)所引入的計(jì)算機(jī)公式中介電常數(shù)ε和損耗角正切tgδ值僅僅取決于測(cè)試電路內(nèi)電容讀數(shù)的比例，而不引入頻率參數(shù)量，所以能使該儀器在很寬的頻率范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量。
一般來(lái)說(shuō)，在 高頻機(jī)介質(zhì)加熱技術(shù)中對(duì)介質(zhì)進(jìn)行測(cè)試的目的有兩個(gè)：**個(gè)目的是研究介質(zhì)本身的電物理性質(zhì)。從而研究如何選擇適當(dāng)?shù)募訜犷l率、計(jì)算功率密度和加熱條件，研究在加熱過(guò)程中電物理性質(zhì)的變化。因此，在測(cè)量時(shí)必須按照要求制作標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試樣品，以便能對(duì)ε和tgδ進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)量。
**個(gè)目的是要求通過(guò)測(cè)量知道盛放被加熱介質(zhì)的實(shí)際工作電容量的等效電容和等效電阻以及在加熱過(guò)程中參量的變化情況，以便依據(jù)實(shí)測(cè)值設(shè)計(jì)振蕩器及負(fù)載匹配系統(tǒng)。所以，后一種測(cè)量不必制成試樣，而要求環(huán)境條件及測(cè)試條件盡量接近于實(shí)際工作的條件。
有時(shí)，這兩個(gè)目的是一致的或者進(jìn)行簡(jiǎn)單的計(jì)算便能互相變換。例如，在電木粉加熱的情況下就是這樣。但是，多數(shù)情況是不一樣的，例如糧食烘干，為了測(cè)量出糧食的ε和 tgδ值及其隨頻率與溫度的變化，我們必須把顆粒狀的糧食磨成粉，軋成餅狀試樣進(jìn)行測(cè)量。但在實(shí)際工作中，
工作電容器內(nèi)盛放的卻是顆粒狀糧食。所以，測(cè)量工作電容器的等效參數(shù)時(shí)必須在盛放有顆粒狀糧食的情況下進(jìn)行。
在**種情況下，主要使用Q表和高頻阻抗電橋。測(cè)試原理及方法同上訴完全一樣。因此，在第三章中介紹工作電容器時(shí)就不重復(fù)了。

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