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技術(shù)文章

高頻機介質(zhì)損耗測試儀測試法
    高頻介質(zhì)損耗測試儀是利用諧振法的原理來測量介質(zhì)材料的介質(zhì)常數(shù)和損耗角正切的精密儀器。它利用導納變化時，回路諧振曲線所呈現(xiàn)出的尖銳程度來衡量介質(zhì)的電物理性質(zhì)。由于測量時所引入的計算機公式中介電常數(shù)ε和損耗角正切tgδ值僅僅取決于測試電路內(nèi)電容讀數(shù)的比例，而不引入頻率參數(shù)量，所以能使該儀器在很寬的頻率范圍內(nèi)進行測量。
    本儀器有兩套測試電容器夾具，一套為測試固體材料的夾具，一套為測試液體材料的夾具。下面簡單的介紹一下它的工作原理。
    這種儀器的電原理圖。被測介質(zhì)材料的試樣夾在測試夾具之內(nèi)，形成電容量為Cp的電容器。Cp與測試回路的耦合線圈L、電阻（線圈的損耗電阻）及指示器（電壓表）并聯(lián)。振蕩器與測試電路采用的互感耦合，而且耦合的很輕松，一防止振蕩器的輸出受測試電路變化的影響。在T1和T2是電路中所有并聯(lián)元件的公共點。在線路中所有的電感和損耗都用等效的L和R來表示。線圈以外的外回路，即Cp、C2以及電壓表V等都用等效的G和C來表示。振蕩器的高周波信號通過電感耦合，在測試回路兩端感應一個電壓U，在U的作用下，外電路流過一定的電流：
在電路中，如果改變電容量C1，并使其達到諧振時的數(shù)值，則諧振回路的總電容為：
此時，電壓表的指示值Uo*大，并等于諧振電壓U1：
用C和U分別表示在失諧狀態(tài)下所對應的電容量及電壓值，就可以得到由于高頻阻抗電橋和高頻介質(zhì)損耗測試儀可以再很寬的頻率范圍內(nèi)任選頻率，而且可以材料介質(zhì)損耗比較大的材料，因此，它對于介質(zhì)加熱技術(shù)的工作對象進行測量具有較大的實用價值。與之相比，Q表則對tgδ較小的絕緣材料進行測量比較適用。
     一般來說，在介質(zhì)加熱技術(shù)中對介質(zhì)進行測試的目的有兩個：**個目的是研究介質(zhì)本身的電物理性質(zhì)。從而研究如何選擇適當?shù)募訜犷l率、計算功率密度和加熱條件，研究在加熱過程中電物理性質(zhì)的變化。因此，在測量時必須按照要求制作標準測試樣品，以便能??ε和tgδ進行準確的測量。
     **個目的是要求通過測量知道盛放被加熱介質(zhì)的實際工作電容量的等效電容和等效電阻以及在加熱過程中參量的變化情況，以便依據(jù)實測值設計振蕩器及負載匹配系統(tǒng)。所以，后一種測量不必制成試樣，而要求環(huán)境條件及測試條件盡量接近于實際工作的條件。
     有時，這兩個目的是一致的或者進行簡單的計算便能互相變換。例如，在電木粉加熱的情況下就是這樣。但是，多數(shù)情況是不一樣的，例如糧食烘干，為了測量出糧食的ε和 tgδ值及其隨頻率與溫度的變化，我們必須把顆粒狀的糧食磨成粉，軋成餅狀試樣進行測量。但在實際工作中，工作電容器內(nèi)盛放的卻是顆粒狀糧食。所以，測量工作電容器的等效參數(shù)時必須在盛放有顆粒狀糧食的情況下進行。
    在**種情況下，主要使用Q表和高頻阻抗電橋。測試原理及方法同上訴完全一樣。因此，在第三章中介紹工作電容器時就不重復了。

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