阻抗分析儀IM3570特點 ；
 
1.不同測量條件下，1臺運(yùn)行高速測量 
測量電容等零部件時，有時在不同條件下(頻率、電平)測量多種測量項目，1條生產(chǎn)線中需要多臺測量儀器。IM3570可再不同測量條件下運(yùn)行高速連續(xù)測量，1臺儀器即可滿足所有要求。
2.檢查速度提高了2倍(跟以往型號相比) 
和HIOKI的以往型號(3532-50)相比，大大縮短了測量時間。LCR模式下，以往機(jī)型一般需要5ms的測量時間，而IM3570的檢查速度提高了2倍。需要全數(shù)檢查電子零部件的生產(chǎn)線中，IM3570發(fā)揮了作用。
3.測量的反復(fù)精度提高了1位(※1mΩ，100次測量時) 
功能性高分子電容在推進(jìn)低ESR化的同時，要求正確測量多個mΩ。IM3570在測量低阻抗時的精度比以往機(jī)型提高了1位，因此為用戶提供穩(wěn)定測量。
4.廣范疇的測量頻率 
IM3570可在DC和4Hz～5Hz的范疇內(nèi)設(shè)置5位分辨率的頻帶(1kHz以下為0.01Hz分辨率)?？稍诮咏舱耦l率的測量和工作條件的狀態(tài)下運(yùn)行測量和評價。
5. 15種測量參數(shù) 
可測量Z、Y等15種參數(shù)，并將需要的參數(shù)讀取至計算機(jī)中。
6.具備防止誤操作的接觸檢查功能 
裝載了4端子測量、2端子測量的接觸檢查功能。防止在測量電極不接觸被測物的狀態(tài)下測量的情況，因此可以避免出現(xiàn)未檢查的產(chǎn)品出廠。
7.廣范疇的測量電壓/電流 
外加一般的開路信號發(fā)生，可在恒壓/恒流模式下運(yùn)行考慮到電壓/電流依存性的測量?？稍O(shè)置廣范疇的、5mV～5V/10μA～50mA(～1MHz)以下的測量信號電平。

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