電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)國家標(biāo)準(zhǔn)匯編：

一、GB/T2423 有以下51個(gè)標(biāo)準(zhǔn)組成：

　　1 GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分: 試驗(yàn)方法試驗(yàn)A: 低溫

　　2 GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分: 試驗(yàn)方法試驗(yàn)B: 高溫
　　
　　3 GB/T 2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法

　　4 GB/T 2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db: 交變濕熱試驗(yàn)方法

　　5 GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)**部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則: 沖擊

　　6 GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)**部分: 試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb和導(dǎo)則：碰撞

　　7 GB/T 2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)**部分: 試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ec和導(dǎo)則: 傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品)

　　8 GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)**部分: 試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed: 自由跌落

　　9 GB/T 2423.9-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分: 試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cb: 設(shè)備用恒定濕熱

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