美商 nPoint 為奈米級(jí)定位 (nano positioning) 及奈米級(jí)移動(dòng)量控制 (nano motion control )專家。其**設(shè)計(jì)有：

Kinematic stage mounting，可有效解決由溫度變化、壓電材料（piezo material）應(yīng)力作用下，所引起夾具（fixture）有奈米級(jí)之扭曲、變形現(xiàn)象。

獨(dú)特C300 Digital Controller，為回路訊號(hào)控制（ closed loop control）具高精度之電容式位置檢測(cè)器 （capacitance sensor）、超快訊號(hào)回饋（sample interval）─ 24µs及使用者自行設(shè)定之PID（proportional、integral、differential控制參數(shù)，讓 C300可**控制每組獨(dú)立軸之位置及移動(dòng)量。由于nPoint 之每組移動(dòng)軸（X，Y，Z軸）完全獨(dú)立，可解決常見于AFM / SPM之Bowing問題－AFM / SPM三軸之壓電材料封裝在一起，當(dāng)在作較大 X / Y方向移動(dòng)時(shí)，Z軸會(huì)翹起來，造成測(cè)量大平面時(shí)，data 卻顯示彎曲。由于以上原因，AFM / SPM  XYZ移動(dòng)范圍都十分小，不一定可完全滿意您的需求。 
 nPoint 現(xiàn)提供解決方案，讓您的AFM / SPM隨時(shí)升級(jí) 
（a）擁有更大之XYZ掃瞄范圍，*大為 400 um x 400 um x 100 um ( XYZ)
（b）擁有立即放大功能（one click zooming）針對(duì)科研、醫(yī)療、航天之**應(yīng)用 
（c）沒有AFM / SPM之飄移（drift）現(xiàn)象 
（d）更高之位置重復(fù)性 ( higher position accuracy )
 
nPoint更提供完整之單軸（1 axis）、雙軸（2 axis）及三軸 （3 axis）奈米級(jí)位移臺(tái), 有各種不同尺寸、承重以供選擇。 
應(yīng)用廣泛 
改善聚焦能力，從而達(dá)到*佳映像 
光罩檢測(cè) 
材料測(cè)試 
原子力顯微鏡（AFM）、掃瞄式探針顯微鏡（SPM） 
近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡（Near-field Scanning optical Microscopy） 
微縮影設(shè)備（Lithography） 
奈米級(jí)超重（Nanometer scale manipulation） 
微測(cè)量學(xué) ( Metrology)
光纖對(duì)位 ( Optical fiber alignment )


NPXYZ100A

C 300 series controller