- EVG 晶圓封裝工藝設(shè)備
- DELCOM薄膜電阻計(jì)
- FSM
- Schmitt 粗糙度測(cè)量?jī)x
- MicroSense振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)
- MicroSense電容式位移傳感器
- Herzan
- Herz 防振臺(tái) 隔振臺(tái)
- Filmetrics光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x
- 美國(guó)4D動(dòng)態(tài)光學(xué)干涉儀
- Chaona 3D光學(xué)輪廓儀
- FEI 電子顯微鏡
- Imago 三維原子探針
- BrightSpot
- AEP
- BeneQ
- Bruker 能譜系統(tǒng)
- SNU
- WaveCatcher場(chǎng)地測(cè)量服務(wù)和工具
- 主軸跳動(dòng)誤差分析儀 主軸運(yùn)動(dòng)誤差測(cè)試系統(tǒng) 主軸誤差分析儀
- MKS流量計(jì)
- MKS壓力計(jì)
- MKS殘余氣體分析儀
- MKS遠(yuǎn)程等離子體源
- SCI 等離子清洗設(shè)備
- Simax 步進(jìn)式光刻機(jī)
- CERES
- CETR
- CleanLogix
- Dover
- Essemtec
- First Nano
- Gatan
- Honda Electronics
- Imago
- Invenious
- Kayex
- Laser Prismatics
- LESCO
- MAT
- mks
- n&K Technology
- nPoint
- Polyteknik
- ShB
- Solar Metrology
- SST
- Tailor
- Tau Science
- Thermo Noran
- VIC
- WestBond
- 其它
- 二手儀器及零件
中文網(wǎng)站:www.dymek.cn
上海分公司:
香港總公司:
00852-24153601
EVG無掩膜光刻技術(shù)
1. 介紹
對(duì)電子設(shè)備性能和靈活性的新要求正在使制造基礎(chǔ)架構(gòu)從傳統(tǒng)的基于掩模的光刻技術(shù)轉(zhuǎn)變?yōu)橛糜谙冗M(jìn)封裝和異構(gòu)集成的數(shù)字光刻技術(shù)。片上系統(tǒng)正在從單片解決方案轉(zhuǎn)向封裝,小芯片和功能塊中的模塊化系統(tǒng)。因此,對(duì)于可擴(kuò)展和通用后端光刻的需求不斷增長(zhǎng),以實(shí)現(xiàn)封裝和系統(tǒng)級(jí)的互連。為了滿足這一新的行業(yè)愿景,需要能夠通過先進(jìn)封裝快速集成新穎功能元素的大規(guī)模生產(chǎn)新工具。大批量制造(HVM)行業(yè)必須超越保守的芯片圖案設(shè)計(jì),并進(jìn)入數(shù)字光刻技術(shù)的新時(shí)代。
EV Group開發(fā)了MLE?(EVG無掩膜光刻技術(shù)),通過消除與掩模相關(guān)的困難和成本,滿足了HVM世界中設(shè)計(jì)靈活性和zui小開發(fā)周期的關(guān)鍵要求。 MLE?解決了多功能(但緩慢)的開發(fā)設(shè)備與快速(但不靈活)的生產(chǎn)之間的干擾。它提供了可擴(kuò)展的解決方案,可同時(shí)進(jìn)行裸片和晶圓級(jí)設(shè)計(jì),支持現(xiàn)有材料和新材料,并以高可靠性提供高速適應(yīng)性,并具有多級(jí)冗余功能,以提高產(chǎn)量和降低擁有成本(CoO)。
EVG的MLE?無掩膜曝光光刻技術(shù)不僅滿足先進(jìn)封裝中后端光刻的關(guān)鍵要求,而且還滿足MEMS,生物醫(yī)學(xué)和印刷電路板制造的要求。
2. EVG無掩膜光刻技術(shù)特征
1.全分辨率,免縫合動(dòng)態(tài)光刻膠圖案
2.任意方向上的線/空間分辨率均優(yōu)于2 μm
3.得益于數(shù)字可編程布局,設(shè)計(jì)自由和數(shù)據(jù)具有機(jī)密性
4.單獨(dú)的模具標(biāo)識(shí)(序列號(hào),加密密鑰等)
5.晶圓級(jí)自適應(yīng)配準(zhǔn)的補(bǔ)償
6.不受基材變形和翹曲的影響(厚晶圓,玻璃或有機(jī)基材)
7.智能敏捷的數(shù)字光刻處理基礎(chǔ)設(shè)施
8.無耗材技術(shù)
3. 先進(jìn)封裝的后端光刻技術(shù)面臨的新挑戰(zhàn)
隨著異構(gòu)集成成為半導(dǎo)體開發(fā)和**中日益增長(zhǎng)的驅(qū)動(dòng)力,影響了先進(jìn)的封裝,MEMS和PCB市場(chǎng),對(duì)后端光刻的要求也在不斷增長(zhǎng)。例如,在先進(jìn)封裝中,對(duì)重新分布層(RDL)和中間層及其連續(xù)密集的線/空間(L / S)的zui低分辨率要求變得越來越嚴(yán)格。在某些情況下,它們接近或超過2微米,而裸片放置變化和使用經(jīng)濟(jì)高效的有機(jī)基板則要求在圖案形成方面具有更大的靈活性。在垂直側(cè)壁圖案化中對(duì)更高的覆蓋精度以及高聚焦深度的要求也在增長(zhǎng)。新的要求,例如zui小化因扇出型晶圓級(jí)封裝(FoWLP)中的晶圓變形引起的圖案變形和芯片偏移以及對(duì)厚光刻膠和薄光刻膠的支持,僅是現(xiàn)有和未來先進(jìn)封裝光刻系統(tǒng)的一些標(biāo)準(zhǔn)。EVG無掩膜光刻技術(shù)適合以下的應(yīng)用:
3.1 先進(jìn)封裝
1.用于大型中間層,扇出和扇入晶圓級(jí)封裝(WLP)器件的重新分布層圖案
2.無掩模版尺寸限制
3.具有失真和模頭偏移補(bǔ)償?shù)目勺儓D案
4.高圖案產(chǎn)量,低成本
3.2 微機(jī)電系統(tǒng)
1.高產(chǎn)品組合和高掩模/掩模版成本推動(dòng)了對(duì)無掩膜光刻的需求
2. 3D光刻膠構(gòu)圖,用于多步和傾斜角邊緣工藝
3.高聚焦深度,可在溝槽中進(jìn)行構(gòu)圖
3.3 生物醫(yī)學(xué)
1.大型射流裝置
2.圖案在微米到毫米的范圍內(nèi)
3.理想的低擁有成本
4.適應(yīng)性強(qiáng)的圖案解決方案,適用于多種產(chǎn)品組合
5.可擴(kuò)展用于各種基材尺寸和生物相容性材料
3.4 HDI印刷電路板
1.嵌入式裸片和高密度重新分配所需的PCB線和空間分辨率
2.必要的翹曲和模具位置校正
3.多種面板尺寸的可變圖案
探針卡的制作過程會(huì)用到這樣的技術(shù)。
探針卡的制作過程會(huì)用到以上的EVG無掩膜光刻技術(shù),如MEMS,電路印刷等。無掩膜曝光光刻技術(shù)非常適合于探針卡的研發(fā)和制作的用戶。
接下來,我們介紹一下EVG無掩膜光刻技術(shù)的原理和技術(shù)優(yōu)勢(shì),請(qǐng)點(diǎn)擊閱讀全文...

