產(chǎn)品目錄
- EVG 晶圓封裝工藝設(shè)備
- DELCOM薄膜電阻計
- FSM
- Schmitt 粗糙度測量儀
- MicroSense振動樣品磁強計
- MicroSense電容式位移傳感器
- Herzan
- Herz 防振臺 隔振臺
- Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀
- 美國4D動態(tài)光學(xué)干涉儀
- Chaona 3D光學(xué)輪廓儀
- FEI 電子顯微鏡
- Imago 三維原子探針
- BrightSpot
- AEP
- BeneQ
- Bruker 能譜系統(tǒng)
- SNU
- WaveCatcher場地測量服務(wù)和工具
- 主軸跳動誤差分析儀 主軸運動誤差測試系統(tǒng) 主軸誤差分析儀
- MKS流量計
- MKS壓力計
- MKS殘余氣體分析儀
- MKS遠程等離子體源
- SCI 等離子清洗設(shè)備
- Simax 步進式光刻機
- CERES
- CETR
- CleanLogix
- Dover
- Essemtec
- First Nano
- Gatan
- Honda Electronics
- Imago
- Invenious
- Kayex
- Laser Prismatics
- LESCO
- MAT
- mks
- n&K Technology
- nPoint
- Polyteknik
- ShB
- Solar Metrology
- SST
- Tailor
- Tau Science
- Thermo Noran
- VIC
- WestBond
- 其它
- 二手儀器及零件
聯(lián)系我們
中文網(wǎng)站:www.dymek.cn
上海分公司:
021-38613675/38613676
東莞分公司:
0769-89818868
北京分公司:
010-62615731/62615735
香港總公司:
00852-24153601
新聞詳情
RAM 影像測量儀 免費來樣測試
日期:2025-11-04 06:03
瀏覽次數(shù):623
摘要:
岱美中國現(xiàn)增添了一臺RAM影像測量儀樣機, 歡迎廣大客戶來樣做樣品測試!
RAM 光學(xué)三坐標(biāo)測量儀產(chǎn)品優(yōu)勢和特點:
操作簡單、使用方便
智能人性化的Joystick操作手柄控制
超穩(wěn)定的花崗巖鑄鐵基底
產(chǎn)品精度可追述至美國國家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究院NIST
Windows操作環(huán)境
可用于逆向分析
可選配Renishaw接觸式探針和激光探針
CNC控制
影像測試儀-美國進口高精度RAM光學(xué)影像測試儀
RAM 光學(xué)三坐標(biāo)測量儀產(chǎn)品優(yōu)勢和特點:
操作簡單、使用方便
智能人性化的Joystick操作手柄控制
超穩(wěn)定的花崗巖鑄鐵基底
產(chǎn)品精度可追述至美國國家標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)研究院NIST
Windows操作環(huán)境
可用于逆向分析
可選配Renishaw接觸式探針和激光探針
CNC控制
影像測試儀-美國進口高精度RAM光學(xué)影像測試儀

