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岱美中國拿到Filmetrics膜厚測量儀F50-XT和F40-EXR的訂單（2013.3.15）
日期：2025-11-10 10:13
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摘要：
岱美中國拿到Filmetrics膜厚測量儀F50-XT和F40-EXR的訂單。該客戶是我國有名的技術(shù)學(xué)科綜合性研究所之一，自新中國成立以來已獲得***獎勵50余項(xiàng)、部委省市級獎勵330余項(xiàng)。于50年代在國內(nèi)率先研制成功球墨鑄鐵，并成功解決了包頭高含氟鐵礦的冶煉和稀土元素回收問題；60年代初研制成功用于濃縮鈾235的關(guān)鍵部件“甲種分離膜”；60年代以后，又在國內(nèi)率先建立了超純金屬和III-V族化合物半導(dǎo)體材料研究基地和發(fā)展了微電子和集成電路制造技術(shù)，與工業(yè)部門合作研制出國內(nèi)**塊工業(yè)實(shí)用PN結(jié)隔離集成電路、ECL高速電路、國內(nèi)**塊8位、16位微處理器等微電子器件，80年代中期利用微電子技術(shù)基礎(chǔ)開展了微電子機(jī)械系統(tǒng)（MEMS）和SOI材料的研究，90年代末和20世紀(jì)初開展了低軌衛(wèi)星通信技術(shù)、無線傳感器網(wǎng)絡(luò)和新一代移動通信技術(shù)的研究，為國民經(jīng)濟(jì)發(fā)展、國家**和社會進(jìn)步作出了重大貢獻(xiàn)。
F50-XT膜厚測量儀采用的是波長范圍在1440-1690nm的紅外光干涉測量，全自動Mapping功能能夠測量0.2um-450um范圍的膜層厚度，準(zhǔn)確度高達(dá)5nm，精度為1nm。
F40-EXR帶顯微鏡膜厚測試系統(tǒng)，波長范圍為：400-1700nm，準(zhǔn)確度高達(dá)千分之四或者1nm之間較大者，精度0.07nm。適用于需要用顯微鏡測試微小區(qū)域的膜厚測試。
F50-XT圖片：
F40-EXR圖片：
F50-XT膜厚測量儀采用的是波長范圍在1440-1690nm的紅外光干涉測量，全自動Mapping功能能夠測量0.2um-450um范圍的膜層厚度，準(zhǔn)確度高達(dá)5nm，精度為1nm。
F40-EXR帶顯微鏡膜厚測試系統(tǒng)，波長范圍為：400-1700nm，準(zhǔn)確度高達(dá)千分之四或者1nm之間較大者，精度0.07nm。適用于需要用顯微鏡測試微小區(qū)域的膜厚測試。
F50-XT圖片：
F40-EXR圖片：