產(chǎn)品目錄
- EVG 晶圓封裝工藝設備
- DELCOM薄膜電阻計
- FSM
- Schmitt 粗糙度測量儀
- MicroSense振動樣品磁強計
- MicroSense電容式位移傳感器
- Herzan
- Herz 防振臺 隔振臺
- Filmetrics光學膜厚測量儀
- 美國4D動態(tài)光學干涉儀
- Chaona 3D光學輪廓儀
- FEI 電子顯微鏡
- Imago 三維原子探針
- BrightSpot
- AEP
- BeneQ
- Bruker 能譜系統(tǒng)
- SNU
- WaveCatcher場地測量服務和工具
- 主軸跳動誤差分析儀 主軸運動誤差測試系統(tǒng) 主軸誤差分析儀
- MKS流量計
- MKS壓力計
- MKS殘余氣體分析儀
- MKS遠程等離子體源
- SCI 等離子清洗設備
- Simax 步進式光刻機
- CERES
- CETR
- CleanLogix
- Dover
- Essemtec
- First Nano
- Gatan
- Honda Electronics
- Imago
- Invenious
- Kayex
- Laser Prismatics
- LESCO
- MAT
- mks
- n&K Technology
- nPoint
- Polyteknik
- ShB
- Solar Metrology
- SST
- Tailor
- Tau Science
- Thermo Noran
- VIC
- WestBond
- 其它
- 二手儀器及零件
聯(lián)系我們
中文網(wǎng)站：www.dymek.cn
上海分公司：
021-38613675/38613676
東莞分公司：
0769-89818868
北京分公司：
010-62615731/62615735
香港總公司：
00852-24153601
新聞詳情
第十二屆中國國際光電博覽會 (CIOE 2010)
日期：2025-11-11 22:55
瀏覽次數(shù)：1884
摘要：
岱美誠摯地邀請您參加第十二屆中國國際光電博覽會 (CIOE 2010)，今年岱美將與Filmetrics, Schmitt和Herzan在精密光學展區(qū)合辦一個展臺，歡迎您光臨查詢。光博會是目前全球*大規(guī)模的光電專業(yè)展覽，總展出面積75000㎡，預計將有超過2000家國內(nèi)外參展商亮相，展示當前世界光電產(chǎn)業(yè)*新產(chǎn)品與技術。展覽同期舉辦技術和商業(yè)研討會。欲了解詳情，您可以登錄以下網(wǎng)址查詢：
http://www.cioe.cn/
日期：2010年9月6-9日
地點：深圳會展中心，深圳市福田區(qū)福華三路
展位：9號館9624號展位