測量精度 Z：±(2.5+0.5×|H|)μm以下 H：位移(mm) X：±(2.5+0.02L)μm以下 L：測量長度(mm) 解決 Z：0.25μm X 刻度：0.1μm 采樣次數/*小間隔 *大64,000點/*小0.5μm 測量范圍 Z：30毫米 X：50毫米 顯示倍率 垂直（Z）、水平（X）：1～2,000次 株式會社小坂研究所是精密測量儀器和其他工業(yè)設備的制造商和開發(fā)商。
公司成立于 1950 年，70 年來一直致力于精密測量儀器、工業(yè)泵和食品包裝機械三個領域的設備開發(fā)和制造，以滿足各種需求，其技術能力不亞于大型制造商。
從能源領域到普通家庭使用的消費品，該公司開發(fā)了多種獨特的制造產品，并憑借長期積累的專有技術與許多大公司建立了業(yè)務往來。