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應(yīng)用
用于檢測(cè)簡(jiǎn)單形狀的工件中平行于表面的缺陷
鍛件、鑄件
金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、機(jī)器零件、殼體
特點(diǎn)
縱波單晶探頭
適合DGS缺陷評(píng)判
性能參數(shù)誤差小，適合高精度檢測(cè)
可更換保護(hù)膜，保護(hù)探頭不被磨損
柔性保護(hù)膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合
合金壓鑄殼體，堅(jiān)固耐用
用于高溫檢測(cè)時(shí)可加裝高溫延遲塊（定制產(chǎn)品）
B..S系列
|
|
A=30mm |
|
B=59mm |
|
|
C=45mm |
|
|
D=29mm |
|
系列 |
型號(hào) |
頻率 (MHZ) |
接口方向 |
帶寬 |
晶片直徑 |
接口類型 |
保護(hù)膜 |
|
BS |
B1S-EN |
1 |
側(cè)裝 |
25 |
24mm |
Lemo 01 |
ES45 |
|
B1S |
1 |
||||||
|
B2S |
2 |
||||||
|
B2.25SE |
2.25 |
||||||
|
B4S |
4 |
||||||
|
B5S |
5 |
||||||
|
B1S-O |
1 |
頂裝 |
|||||
|
B2S-O |
2 |
||||||
|
B4S-O |
4 |
||||||
|
B5S-O |
5 |
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