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第17年
- 入駐時間: 2008-10-10
- 聯(lián)系人:張運華
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-
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產(chǎn)品詳情
簡單介紹:
美國GE B4F歐規(guī)耐磨直探頭特點
持久耐磨的工作面
與金屬匹配良好
比保護膜探頭有更高增益余量
應用
用于檢測結構簡單的金屬零件如大型鍛件、鑄件、坯料
小款探頭用于管材、板材、棒材、儲罐、小型鍛件
疊層、分層結構、粘接檢測
詳情介紹:
美國GE B4F歐規(guī)耐磨直探頭特點
持久耐磨的工作面
與金屬匹配良好
比保護膜探頭有更高增益余量
應用
用于檢測結構簡單的金屬零件如大型鍛件、鑄件、坯料
小款探頭用于管材、板材、棒材、儲罐、小型鍛件
疊層、分層結構、粘接檢測
持久耐磨的工作面
與金屬匹配良好
比保護膜探頭有更高增益余量
應用
用于檢測結構簡單的金屬零件如大型鍛件、鑄件、坯料
小款探頭用于管材、板材、棒材、儲罐、小型鍛件
疊層、分層結構、粘接檢測
大型部件和難于穿透的材料檢測
B…F系列
A=31 B=15
晶片直徑20mm,帶寬60,側裝LEMO 00接口
|
型號 |
頻率 |
近場距離 |
|
B 1 F |
1MHz |
16mm |
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B 2 F |
2MHz |
31mm |
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B 4 F |
4MHz |
62mm |
|
B 5 F |
5MHz |
76mm |
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