QQI標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測(cè)試片

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定量品質(zhì) (QQI) 試片是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測(cè)試片，用以確定磁場(chǎng)方向和相應(yīng)磁場(chǎng)強(qiáng)度， 亦可用于平衡多向磁場(chǎng)，將磁化次數(shù)降至*少，以提高生產(chǎn)效率。

件號(hào)及包裝形式
519630      
人工缺陷呈基圓和十字交叉條形，適用于縱向和周向磁場(chǎng)。缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.002英寸 (0.05毫米)。   標(biāo)準(zhǔn)QQI試片 #KSC-230
519631      
與KSC-230相似，專用于工件上的小區(qū)域，每片上四個(gè)圓，可切割開(kāi)，單獨(dú)使用。缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.002英寸 (0.05毫米)。   小型QQ I試片 #KSC-4-230
519632      
用于定量要求更高的作業(yè)，人工缺陷呈三個(gè)不同深度的同心圓環(huán)。缺陷深度分別為試片厚度的20%，30%， 40%，試片厚度為0.002英寸 (0.05毫米)。   不同深度的QQI試片 #KSCT-234
521048      
人工缺陷呈基圓和十字交叉條形，適用于縱向和周向磁場(chǎng)。缺陷深度為試片厚度的30%，試片厚度為0.04英寸 (1.02毫米)。   標(biāo)準(zhǔn)QQI試片 #KSC-430
521049      
用于定量要求更高的作業(yè)，人工缺陷呈三個(gè)不同深度的同心圓環(huán)。缺陷深度分別為試片厚度的20%，30%，40%，試片厚度為0.004英寸(0.10毫米)。   不同深度的QQI試片 #KSC4-234

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