手持合金分析儀 XL2基本原理
基本原理
手持合金分析儀 XL2是一種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內(nèi)層電子，手持合金分析儀 XL2出現(xiàn)殼層空穴，當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時，就會產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。
儀器特點
——便攜、高效、準確可以在質(zhì)量控制、材料分類、合金鑒別、事故調(diào)查等現(xiàn)場應(yīng)用。
——選配小點瞄準模式，可檢測被檢測面積較小的樣品，如：焊點、焊縫。
——高性能硅漂（SDD）探測器（25平方毫米），即可分析Mg、Al、Si、P等輕元素。
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