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四探針測(cè)試儀
產(chǎn)品圖片
產(chǎn)品名稱/型號(hào)
產(chǎn)品簡(jiǎn)單介紹
RTS-5四探針測(cè)試儀
RTS-5四探針測(cè)試儀采用了四探針雙電測(cè)組合(亦稱雙位組合)測(cè)量新技術(shù),將范德堡測(cè)量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換,在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測(cè)量,能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。咨詢電話:18602102632.
SDY-4四探針測(cè)試儀
SDY-4四探針測(cè)試儀是根據(jù)單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)測(cè)試專用儀器. 咨詢電話:18602102632
RTS-9雙電測(cè)四探針測(cè)試儀
RTS-9雙電測(cè)四探針測(cè)試儀(適用晶片尺寸:2"~12"選配探針臺(tái);電阻率:10-4~105 Ω.cm(可擴(kuò)展);方塊電阻:10-3~106Ω.cm (可擴(kuò)展);可測(cè)晶片厚度:≤3.00mm)。咨詢電話:18602102632.
RTS-8四探針測(cè)試儀
RTS-8四探針測(cè)試儀適用晶片尺寸:2"~12"(選配探針臺(tái));電阻率:10-4~105 Ω.cm(可擴(kuò)展);方塊電阻:10-3~106 Ω.cm (可擴(kuò)展)是用于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器,按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的。咨詢電話:18602102632.
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