*近有一些客戶反映，用不同的品牌的LCR數(shù)字電橋或者同一品牌的lcr電橋的不同型號對兆歐級高阻抗電阻測量時，結(jié)果偏差很大，甚至是安捷倫，同惠的產(chǎn)品也是這樣。經(jīng)過我們儀器信息港（同惠上?？偞┑墓こ處煵殚喠思夹g(shù)文獻(xiàn)，走訪了一些遇到這樣問題的客戶，我們給出了一下的解釋，基本解決了LCR數(shù)字電橋如何測量兆歐級高阻抗電阻的問題。
如下圖所示，高值電阻包含一個寄生低pF 級電容，這個電容與電阻是并聯(lián)：
儀器信息港確認(rèn)當(dāng)使用 lcr數(shù)字電橋測量高值電阻時，應(yīng)選擇 Cp - Rp 測量功能（并聯(lián)等效電路模式），使測量電路模式與電阻的實際等效電路相匹配，如下圖所示。
上圖中，Xp 代表寄生電容在測試頻率上的電抗（電容性阻抗）。公式“D”代表電阻在測試頻率上的損耗因數(shù)。
如果使用 R - X 測量功能來測量電阻，那么 E4980A/ 4284A 采用如下所示的串聯(lián)等效電路：
.png)
串聯(lián)等效電路模式（R - X 測量中）不同于高值電阻的實際并聯(lián)等效電路。因此， R - X 模式中的被測電阻與實際的并聯(lián)電阻（Rp）不一致。從理論上講，串聯(lián)電阻（Rs）與并聯(lián)電阻（Rp）的關(guān)系可用等式 Rs = Rp x D2 / (1 + D2) 表示。此處，串聯(lián)和并聯(lián)等效電路的損耗因數(shù)（D）值是相等的：
當(dāng)D 值不夠高（純電阻性）時，串聯(lián)電阻（Rs）總是低于并聯(lián)電阻（Rp）。
所以，您在使用lcr數(shù)字電橋時測量高阻抗電阻時，請選好測試參數(shù)進(jìn)行測量。本文章由儀器信息港編寫，希望對您有所幫助。
本頁面標(biāo)題：LCR數(shù)字電橋如何測量兆歐級高阻抗電阻