缺陷的判別

采用縱波斜入射探傷掃查時(shí)會(huì)出現(xiàn)三種情況，分析如下：

**種情況是沒有缺陷波，僅有孤立的底波，無附著雜波，波幅清晰，聲壓高。判定無裂紋。

**種情況是當(dāng)探頭沿園周轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)，底波附近無缺陷部位可能出現(xiàn)類似缺陷的較強(qiáng)反射波群，此時(shí)除底波反射當(dāng)量較強(qiáng)外，其它雜波起伏不定，移動(dòng)探頭此起彼伏，無指示長度，變化較大，反射當(dāng)量偏低，屬較明顯的點(diǎn)狀缺陷反射波，實(shí)測(cè)證明屬瓷件表面波紋或水泥膠結(jié)的砂粒透入波。系制造廠將支柱瓷絕緣子插入鑄鐵法蘭時(shí)在園周填充灌注的水泥膠與砂粒，這些膠合的砂粒作為過渡加強(qiáng)部分環(huán)繞在鑄鐵法蘭與瓷體的交接面上，而此處正是裂紋形成的區(qū)域，因此，在超聲波掃查時(shí)，必須將此波與裂紋波區(qū)分開來。搜索到缺陷波時(shí)應(yīng)盡可能與底波同呈，因?yàn)橥蕰r(shí)分辨率*高，容易辯認(rèn)。

第三種情況是缺陷波與底波同呈時(shí)，二波信號(hào)比<6db ，即缺陷波信號(hào)低于底波信號(hào)，且缺陷波指示長度< 10mm 時(shí)應(yīng)判定為表面損傷。>10mm 時(shí)可判定為裂紋。

缺陷波與底波同呈時(shí)，二波信號(hào)比基本相等，且指示長度<10mm 時(shí)判定為點(diǎn)狀缺陷，指示長度>10mm 時(shí)應(yīng)判定為裂紋。

缺陷波與底波同呈時(shí)，二波信號(hào)比>6db ，既缺陷波信號(hào)強(qiáng)于底波信號(hào)，且指示長度>10mm 時(shí)應(yīng)判定為裂紋。

 5.2.2 采用爬波檢查外壁缺陷時(shí)，由于采用TR 探頭，顯示屏始脈沖后基本無雜波，缺陷信號(hào)容易識(shí)別。指示長度易測(cè)定。掃查時(shí)會(huì)出現(xiàn)兩種情況，分析如下：

**種情況是外壁缺陷信號(hào)≤深度1.0mm 模擬裂紋反射波高，此時(shí)應(yīng)測(cè)定其指示長度，當(dāng)指示長度≥10mm 時(shí)應(yīng)判定為裂紋，<10mm 時(shí)應(yīng)判定為表面損傷。

**種情況是當(dāng)缺陷反射波高> 深度1mm 模擬裂紋反射波高時(shí)，當(dāng)指示長度≥5mm 應(yīng)判定為裂紋。

爬波檢查外壁缺陷判定為裂紋時(shí)，應(yīng)采用縱波斜入射探頭進(jìn)行驗(yàn)證。以便*終確定缺陷性質(zhì)。

探測(cè)中如發(fā)現(xiàn)支柱絕緣子及瓷套內(nèi)部缺陷，應(yīng)采用與缺陷深度相近的JYZ 系列試塊作當(dāng)量比較。

  在現(xiàn)場的實(shí)際使用過程中，操作人員的熟練程度決定了現(xiàn)場缺陷的檢出完全與否。