福祿克熱像儀在電子研發(fā)中的應(yīng)用

    當(dāng)前，電子設(shè)備主要失效形式就是熱失效。據(jù)統(tǒng)計(jì)，電子設(shè)備失效有55%是溫度超過(guò)規(guī)定值引起，隨著溫度增加，電子設(shè)備失效率呈指數(shù)增長(zhǎng)。一般而言電子元器件的工作可靠性對(duì)溫度極為敏感，器件溫度在70-80℃水平上每增加1℃，可靠性就會(huì)下降5%。

    熱像儀能夠**檢測(cè)電路板上每個(gè)元器件的溫度，這是其他測(cè)溫工具所做不到的；把空調(diào)器控制板上每個(gè)元器件的溫度控制在限度范圍內(nèi)，將可以大大提高運(yùn)行穩(wěn)定性和產(chǎn)品壽命。

在能源緊張的今天，節(jié)能省電是電器產(chǎn)品的主流課題，在電路研發(fā)過(guò)程中，進(jìn)行負(fù)載分析是必須的；熱像儀提供了通過(guò)溫度檢測(cè)進(jìn)行負(fù)載分析的手段，通過(guò)熱圖您可以很直觀的辨識(shí)出高功耗部位，為工程師完善電路，提高轉(zhuǎn)換效率、減少功耗、減少電路內(nèi)部溫升提供強(qiáng)有力依據(jù)。

    LED 的實(shí)際壽命與工作溫度往往成反比，如LED 使用壽命在工作溫度為74℃為10000 小時(shí)，63℃為25000 小時(shí)，小于50℃時(shí)，則可為50000 小時(shí)。根本原因是LED 的光電轉(zhuǎn)換率極差，大約只有15%至20%，其余轉(zhuǎn)換為熱能，因此對(duì)LED 燈芯溫度的控制非常重要。但LED 燈的芯片較小，用熱電偶布點(diǎn)檢測(cè)其表面溫度很不方便，利用紅外熱像儀則可以非常便捷的檢測(cè)到其表面溫度。

    LED芯片檢測(cè)

    Fluke熱像儀具有高像素FPA傳感器、紅外-可見(jiàn)光融合、高熱靈敏度（≤0.05℃）、任意增配長(zhǎng)焦或廣角鏡頭、人性化設(shè)計(jì)、三按鈕菜單、單手使用、可進(jìn)行直觀的操作和瀏覽、發(fā)射率校正、透射率校正、高溫報(bào)警和現(xiàn)場(chǎng)可更換電池等特點(diǎn)，使熱像儀能夠勝任各種復(fù)雜的工作環(huán)境。

    福祿克憑借強(qiáng)大的銷(xiāo)售及技術(shù)服務(wù)網(wǎng)絡(luò)幫助客戶(hù)共同迎接在工作中遇到的各種挑戰(zhàn)，為測(cè)試和維護(hù)工作排憂(yōu)解難，使客戶(hù)獲得在當(dāng)今激烈競(jìng)爭(zhēng)的市場(chǎng)環(huán)境中所必需的、*具價(jià)值的測(cè)試測(cè)量解決方案。

    FLUKE 公司全新推出Ti32 型紅外線熱影像儀，此款產(chǎn)品讓使用者可輕易針對(duì)電子電路、機(jī)電設(shè)備、制程加工設(shè)備、HVAC/R (暖通，空調(diào)及冷卻系統(tǒng))等設(shè)備進(jìn)行故障排除及預(yù)防性維護(hù)。