高密度源表SMU2606B

將密度提高 3 倍

當生產測試機架空間增加且您需要盡量減少增加新測試機架的需求時，與傳統(tǒng) 2U 外形的 SMU 相比，2606B 可以在同一機架區(qū)域中增加更多通道容量。

• 方便堆疊和安放
• 無需增加 1U 隔熱間距
• 相同機架空間內的通道數提高 3 倍
• 通道數相同但占用空間減少 3 倍

高密度源表SMU2606B

• 0.015% 基本測量精度
• 6 1/2 位分辨率
• 100nA 低電流范圍與 2pA 靈敏度
• 8 針 Phoenix 模擬和 25 針數字 I/O 連接器

高密度源表SMU2606B

系統(tǒng)性能提供****的生產吞吐量

• 消除與 PC 之間耗時的總線通信
• 兼容儀器 2602B SourceMeter 的 TSP 腳本代碼
• 連接多達 32 個 TSP-Link 節(jié)點或 64 條獨立 SMU 通道
• 隨著測試要求變化輕松重新配置
• 
  

• 可編程電流源可達 3 A 電流和 100 μs 脈沖寬度
• 電壓和電流測量分辨率為 100 nV 和 0.1 fA
• 內置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信
• 
  

LED 的大批量生產測試

2606B SMU 是業(yè)內**的儀器，用于 LED 直流檢定和生產測試。其可配置為源電流或電壓并結合 0.015% 基本測量精度的電壓和電流測量，滿足各種測試需求。此外，測試腳本處理器 (TSP®) 技術還具有吞吐量優(yōu)勢。

• 可編程電流源可達 3 A 電流和 100 μs 脈沖寬度
• 電壓和電流測量分辨率為 100 nV 和 0.1 fA
• 內置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信
• 多達 64 條通道的菊花鏈，實現大批量并行測試

高密度源表SMU2606B應用場景

使用多通道 SMU 儀器檢定晶體管

憑借其集成源和測量、電壓或電流、精密度和準確度，2606B 系統(tǒng) SourceMeter SMU 儀器非常適合測晶片上或包裝零件內的晶體管，包括捕獲漏電波形系列、門限電壓、門電路漏電和跨導。

• 可編程電流源可達 3 A 電流和 100 μs 脈沖寬度
• 電壓和電流測量分辨率為 100 nV 和 0.1 fA
• *佳精度 0.015%，6? 位分辨率
• 內置 TSP 處理功能可減少 PC 儀器總線通信

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