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噪聲分析儀紡織檢測(cè)儀器 Toc分析儀 PT-303紅外測(cè)溫儀轉(zhuǎn)矩測(cè)試儀繼電保護(hù)試驗(yàn)儀定氮儀

蘇州天儀科創(chuàng)機(jī)電科技有限公司
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直流電源 | 源測(cè)量單元 | 數(shù)字萬(wàn)用表 | 半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng) | 電池測(cè)試與模擬

產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號(hào)	產(chǎn)品簡(jiǎn)單介紹
	SMU 源表 2601B	2600B 系列 SMU 源表2601B Keithley 2600B 系列系統(tǒng) SMU 儀器是業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)電流-電壓源和測(cè)量解決方案，適用于高度自動(dòng)化生產(chǎn)測(cè)試應(yīng)用。雙通道和單通道型號(hào)都緊密集成一個(gè)精密電源、真正電流源、數(shù)字萬(wàn)用表和具有脈沖生成功能的電子負(fù)載。另外，TSP® 技術(shù)可運(yùn)行完整測(cè)試程序，適用于自動(dòng)化系統(tǒng)應(yīng)用，TSP-鏈路®技術(shù)允許菊花式鏈接*多 64 條通道，適用于大容量并行測(cè)試。
	THD 和音頻分析萬(wàn)用表 2015-P	Keithley 2015-P THD 和音頻分析萬(wàn)用表我們的音頻分析萬(wàn)用表將音頻帶質(zhì)量測(cè)量和分析與多用途 6½ 位 DMM 集于一體，一切盡在一臺(tái)半機(jī)架儀器中。它們可以測(cè)量 20 Hz 至 20 kHz 音頻帶范圍內(nèi)的總諧波失真 (THD)，還可以計(jì)算總諧波失真+噪聲和信納比 (SINAD)。 2015-PP 和 2016-P 設(shè)備可直接識(shí)別頻譜峰值。
	THD 和音頻分析萬(wàn)用表 2015	Keithley 2015 THD 和音頻分析萬(wàn)用表我們的音頻分析萬(wàn)用表將音頻帶質(zhì)量測(cè)量和分析與多用途 6½ 位 DMM 集于一體，一切盡在一臺(tái)半機(jī)架儀器中。它們可以測(cè)量 20 Hz 至 20 kHz 音頻帶范圍內(nèi)的總諧波失真 (THD)，還可以計(jì)算總諧波失真+噪聲和信納比 (SINAD)。 2015P 和 2016-P 設(shè)備可直接識(shí)別頻譜峰值。
	掃描功能數(shù)字萬(wàn)用表 2002MEM2	Keithley 2002MEM2 系列：配有掃描功能的 8½ 位萬(wàn)用表這款 8½ 位 2002MEM2 型高性能數(shù)字萬(wàn)用表不僅提供通常只有花費(fèi)數(shù)千元購(gòu)買的儀器才有的性能技術(shù)指標(biāo)，而且具有通常 DMM 都沒(méi)有的眾多功能。這款 DMM 具有 1nV DCV 靈敏度和 0.0006% 基本精度，還具備 18 種測(cè)量功能。為實(shí)現(xiàn)更大靈活性，在后面板上的內(nèi)置卡槽上還可以再插入一個(gè)多路器卡用于多點(diǎn)測(cè)量。當(dāng)生產(chǎn)測(cè)試、設(shè)計(jì)
	掃描功能數(shù)字萬(wàn)用表 2002	Keithley 2002 系列：配有掃描功能的 8½ 位萬(wàn)用表這款 8½ 位 2002 型高性能數(shù)字萬(wàn)用表不僅提供通常只有花費(fèi)數(shù)千元購(gòu)買的儀器才有的性能技術(shù)指標(biāo)，而且具有通常 DMM 都沒(méi)有的眾多功能。這款 DMM 具有 1nV DCV 靈敏度和 0.0006% 基本精度，還具備 18 種測(cè)量功能。為實(shí)現(xiàn)更大靈活性，在后面板上的內(nèi)置卡槽上還可以再插入一個(gè)多路器卡用于多點(diǎn)測(cè)量。當(dāng)生產(chǎn)測(cè)試、設(shè)計(jì)驗(yàn)證和測(cè)量應(yīng)用特別需要高精度時(shí)，這款 DMM 就是優(yōu)良的選擇。
	掃描數(shù)字萬(wàn)用表 2001	Keithley 2001 系列：配有掃描功能的 7½ 位萬(wàn)用表 2001 系列具有 7 ½ 位分辨率和 0.0018% 的基本 DCV 精度，提供**的分辨率、精度和靈敏度。這款高性能數(shù)字萬(wàn)用表不僅提供通常只有花費(fèi)數(shù)千元購(gòu)買的儀器才有的性能技術(shù)指標(biāo)，而且具有通常 DMM 都沒(méi)有的眾多功能。為實(shí)現(xiàn)更大靈活性，在后面板上的內(nèi)置卡槽上還可以再插入一個(gè)多路器卡用于多點(diǎn)測(cè)量。
	高精度、高采樣速度數(shù)字萬(wàn)用表 DMM7510	DMM7512 雙通道 7½ 位采樣萬(wàn)用表 DMM7512 將兩個(gè)全功能、高精度、高采樣速度的數(shù)字萬(wàn)用表組合到一個(gè) 1U 高的全機(jī)架寬機(jī)箱中。該緊湊型機(jī)箱可在高密度儀器測(cè)試系統(tǒng)中節(jié)省機(jī)架空間，而不會(huì)影響測(cè)量性能。每個(gè) DMM 具有相同的功能，并且完全相互獨(dú)立。
	高精度、高分辨率數(shù)字萬(wàn)用表 DMM DMM7510-RACK	DMM7510-RACK DMM7510-RACK 集高精度、高分辨率數(shù)字萬(wàn)用表 (DMM)、圖形觸摸屏顯示器和高速、高分辨率數(shù)字化器于一身，是一款圖形采樣萬(wàn)用表。其具有 pA 靈敏度和 1M 個(gè)樣點(diǎn)/秒的采樣率，能準(zhǔn)確測(cè)量超低睡眠模式電流和傳輸無(wú)線設(shè)備的漏電流。
	高精度、高分辨率數(shù)字萬(wàn)用表 DMM DMM7510	DMM7510 DMM7510 集高精度、高分辨率數(shù)字萬(wàn)用表 (DMM)、圖形觸摸屏顯示器和高速、高分辨率數(shù)字化器于一身，是一款圖形采樣萬(wàn)用表。其具有 pA 靈敏度和 1M 個(gè)樣點(diǎn)/秒的采樣率，能準(zhǔn)確測(cè)量超低睡眠模式電流和傳輸無(wú)線設(shè)備的漏電流。
	數(shù)字萬(wàn)用表 DMM DMM6500	Keithley DMM6500 6.5 位數(shù)字萬(wàn)用表，帶圖形觸摸屏無(wú)需巨額投資即可獲得高性能儀器。這款臺(tái)式觸摸屏 6.5 位數(shù)字萬(wàn)用表，提供了包括瞬態(tài)捕獲、數(shù)據(jù)可視化和分析在內(nèi)的多種測(cè)量功能，超越了許多同價(jià)位的工業(yè) 6.5 位數(shù)字萬(wàn)用表。此外，它享有標(biāo)準(zhǔn)的 3 年保修服務(wù)。查看更多型號(hào)的數(shù)字萬(wàn)用表。
	Keithley 自動(dòng)化檢定軟件 ACS	吉時(shí)利自動(dòng)化檢定套件 (ACS) 是靈活的交互式軟件測(cè)試環(huán)境，可用于器件檢定、參數(shù)化測(cè)試、可靠性測(cè)試，甚至簡(jiǎn)單的功能測(cè)試。ACS 支持各種吉時(shí)利儀器和系統(tǒng)、硬件配置和測(cè)試設(shè)置，從用于 QA 實(shí)驗(yàn)室的一些臺(tái)式儀器到完全集成且基于機(jī)架的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。利用 ACS，用戶可使用自動(dòng)硬件管理工具配置儀器，并快速執(zhí)行測(cè)試，無(wú)需具備編程知識(shí)。
	半導(dǎo)體開關(guān)系統(tǒng) 707B	707B半導(dǎo)體開關(guān)系統(tǒng)，半導(dǎo)體器件的高速和低電流要求高質(zhì)量、高性能的 I-V 和 C-V 信號(hào)開關(guān)。我們?yōu)榘雽?dǎo)體研發(fā)和生產(chǎn)測(cè)試應(yīng)用提供開關(guān)解決方案，其中主機(jī)可以支持多達(dá) 2,880 個(gè)通道以及專為半導(dǎo)體應(yīng)用而設(shè)計(jì)的一系列矩陣卡。
	半導(dǎo)體開關(guān)系統(tǒng) 708B	708B半導(dǎo)體開關(guān)系統(tǒng)，半導(dǎo)體器件的高速和低電流要求高質(zhì)量、高性能的 I-V 和 C-V 信號(hào)開關(guān)。我們?yōu)榘雽?dǎo)體研發(fā)和生產(chǎn)測(cè)試應(yīng)用提供開關(guān)解決方案，其中主機(jī)可以支持多達(dá) 2,880 個(gè)通道以及專為半導(dǎo)體應(yīng)用而設(shè)計(jì)的一系列矩陣卡。
	氮化鎵、碳化硅參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng) S500	當(dāng)今的模擬和功率半導(dǎo)體技術(shù)（包括 GaN 和 SiC）氮化鎵、碳化硅要求進(jìn)行參數(shù)測(cè)試，以便大限度提高測(cè)量性能、支持廣泛的產(chǎn)品組合以及大限度降低測(cè)試成本。40 多年來(lái)，吉時(shí)利已經(jīng)在關(guān)鍵應(yīng)用中解決了這些問(wèn)題以及其他重要挑戰(zhàn)，這些應(yīng)用包括工藝整合、工藝控制監(jiān)控、生產(chǎn)芯片分類（例如，晶片驗(yàn)收或已知的良好芯片測(cè)試），以及可靠性。
	氮化鎵、碳化硅參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng) S540	當(dāng)今的模擬和功率半導(dǎo)體技術(shù)（包括 GaN 和 SiC）氮化鎵、碳化硅要求進(jìn)行參數(shù)測(cè)試，以便大限度提高測(cè)量性能、支持廣泛的產(chǎn)品組合以及大限度降低測(cè)試成本。40 多年來(lái)，吉時(shí)利已經(jīng)在關(guān)鍵應(yīng)用中解決了這些問(wèn)題以及其他重要挑戰(zhàn)，這些應(yīng)用包括工藝整合、工藝控制監(jiān)控、生產(chǎn)芯片分類（例如，晶片驗(yàn)收或已知的良好芯片測(cè)試），以及可靠性。
	氮化鎵、碳化硅參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng) S530	當(dāng)今的模擬和功率半導(dǎo)體技術(shù)（包括 GaN 和 SiC）氮化鎵、碳化硅要求進(jìn)行參數(shù)測(cè)試，以便大限度提高測(cè)量性能、支持廣泛的產(chǎn)品組合以及大限度降低測(cè)試成本。40 多年來(lái)，吉時(shí)利已經(jīng)在關(guān)鍵應(yīng)用中解決了這些問(wèn)題以及其他重要挑戰(zhàn)，這些應(yīng)用包括工藝整合、工藝控制監(jiān)控、生產(chǎn)芯片分類（例如，晶片驗(yàn)收或已知的良好芯片測(cè)試），以及可靠性。
	PCT參數(shù)波形記錄儀 2600-PCT-4B	2600-PCT-4BPCT參數(shù)波形記錄儀開發(fā)和使用MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要**的器件級(jí)檢定，如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測(cè)量。 Keithley參數(shù)波形記錄儀（代替原晶體管圖示儀）支持所有的設(shè)備類型和測(cè)試參數(shù)。Keithley參數(shù)波形記錄提供高功率同步電流電壓曲線測(cè)試（IV曲線測(cè)試）、電容電壓曲線測(cè)試（CV曲線測(cè)試）和高功率脈沖IV曲線測(cè)量。
	PCT參數(shù)波形記錄儀 2600-PCT-3B	2600-PCT-3BPCT參數(shù)波形記錄儀開發(fā)和使用MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要**的器件級(jí)檢定，如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測(cè)量。 Keithley參數(shù)波形記錄儀（代替原晶體管圖示儀）支持所有的設(shè)備類型和測(cè)試參數(shù)。Keithley參數(shù)波形記錄提供高功率同步電流電壓曲線測(cè)試（IV曲線測(cè)試）、電容電壓曲線測(cè)試（CV曲線測(cè)試）和高功率脈沖IV曲線測(cè)量。
	PCT參數(shù)波形記錄儀 2600-PCT-2B	2600-PCT-2BPCT參數(shù)波形記錄儀開發(fā)和使用MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要**的器件級(jí)檢定，如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測(cè)量。 Keithley參數(shù)波形記錄儀（代替原晶體管圖示儀）支持所有的設(shè)備類型和測(cè)試參數(shù)。Keithley參數(shù)波形記錄提供高功率同步電流電壓曲線測(cè)試（IV曲線測(cè)試）、電容電壓曲線測(cè)試（CV曲線測(cè)試）和高功率脈沖IV曲線測(cè)量。
	PCT參數(shù)波形記錄儀 2600-PCT-1B	2600-PCT-1BPCT參數(shù)波形記錄儀開發(fā)和使用MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要**的器件級(jí)檢定，如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測(cè)量。 Keithley參數(shù)波形記錄儀（代替原晶體管圖示儀）支持所有的設(shè)備類型和測(cè)試參數(shù)。Keithley參數(shù)波形記錄提供高功率同步電流電壓曲線測(cè)試（IV曲線測(cè)試）、電容電壓曲線測(cè)試（CV曲線測(cè)試）和高功率脈沖IV曲線測(cè)量。

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