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廣東海銀試驗裝備有限公司
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非線性快速溫變試驗箱 | 線性快速溫變試驗箱

產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號	產(chǎn)品簡單介紹
	快速溫變試驗箱 HY-JK800TK	快速溫變試驗箱適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品提供電子零組件，成品、半成品、半導(dǎo)體、化學(xué)、材料等個中環(huán)境測試整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗及應(yīng)力篩選試驗以便對試品在擬定條件下的性能、行為作出分析及評價（快速變化）.
	快速??變試驗箱 HY-KC600TK	快速溫變試驗箱適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品提供電子零組件，成品、半成品、半導(dǎo)體、化學(xué)、材料等個中環(huán)境測試整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗及應(yīng)力篩選試驗以便對試品在擬定條件下的性能、行為作出分析及評價（快速變化）.符合 MIL-STAND.IEC,JIS 測試規(guī)范
	快速溫變試驗箱 HY-800TK-C	快速溫變試驗箱適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品提供電子零組件，成品、半成品、半導(dǎo)體、化學(xué)、材料等個中環(huán)境測試整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗及應(yīng)力篩選試驗以便對試品在擬定條件下的性能、行為作出分析及評價（快速變化）.符合 MIL-STAND.IEC,JIS 測試規(guī)范
	天津快速溫變試驗箱 HY-225TK/GK1	快速溫變試驗箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元器件在溫度快速轉(zhuǎn)變的情況下檢驗產(chǎn)品的各項性能指標(biāo)
	高低溫快速溫變箱 HY-TK600T-N	高低溫快速溫變箱適用于重型工業(yè)、自動化零組件,汽車部件,電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品,塑膠,化工業(yè),食品業(yè),制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗（沖擊）
	高低溫快速變化試驗箱 HY-1000TK-D	高低溫快速變化試驗箱產(chǎn)品用途：即快速升降溫箱，本系列試驗箱就是用各種各樣的溫度環(huán)境試驗產(chǎn)品和設(shè)備的動作和耐久性的裝置；是用于研究從產(chǎn)品和設(shè)備的開發(fā)，經(jīng)過生產(chǎn)階段，直至出廠、廢棄之前所經(jīng)受的溫度的影響
	快速溫變高低溫試驗箱 HY-408TK-B	快速溫變高低溫試驗箱主要用途：高低溫快速變化試驗箱是產(chǎn)品在設(shè)計強度極限下，運用溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內(nèi)進行循環(huán)時，產(chǎn)品產(chǎn)生交替膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應(yīng)力，使產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變，透過加速應(yīng)力來使?jié)摯嬗诋a(chǎn)品的瑕疵浮現(xiàn)，以避免該產(chǎn)品于使用過程中，受到環(huán)境應(yīng)力的考驗時而導(dǎo)致失效，造成不必要的損失，對于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯注的效果
	高低溫快速溫變箱 HY-TK600T-L	高低溫快速溫變箱適用于重型工業(yè)、自動化零組件,汽車部件,電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品,塑膠,化工業(yè),食品業(yè),制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗（沖擊）
	快速溫變高低溫試驗箱 HY-1000TK-C	??速溫變高低溫試驗箱產(chǎn)品用途：即快速升降溫箱，本系列試驗箱就是用各種各樣的溫度環(huán)境試驗產(chǎn)品和設(shè)備的動作和耐久性的裝置；是用于研究從產(chǎn)品和設(shè)備的開發(fā)，經(jīng)過生產(chǎn)階段，直至出廠、廢棄之前所經(jīng)受的溫度的影響。本系列試驗箱可以進行如下所示的試驗：低溫試驗、高溫試驗、壽命試驗及快速溫度變化試驗
	高低溫沖擊試驗箱廠家 HY-408-2P	高低溫沖擊試驗箱廠家用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、及高分子材料之物理牲變化，測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害.
	快速溫變高低溫試驗箱 HY-600TK/GK-A	快速溫變高低溫試驗箱產(chǎn)品用途：即快速升降溫箱，本系列試驗箱就是用各種各樣的溫度環(huán)境試驗產(chǎn)品和設(shè)備的動作和耐久性的裝置；是用于研究從產(chǎn)品和設(shè)備的開發(fā)，經(jīng)過生產(chǎn)階段，直至出廠、廢棄之前所經(jīng)受的溫度的影響。本系列試驗箱可以進行如下所示的試驗：低溫試驗、高溫試驗、壽命試驗及快速溫度變化試驗
	快速溫變高低溫試驗箱 HY-TK408T-L	快速溫變高低溫試驗箱適用于重型工業(yè)、自動化零組件,汽車部件,電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品,塑膠,化工業(yè),食品業(yè),制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗（沖擊）
	兩箱式溫度沖擊試驗箱 HY-252-2P	兩箱式溫度沖擊試驗箱用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害
	快速溫變高低溫試驗箱 HY-600JK/GK-B	快速溫變高低溫試驗箱適用于電工、電子產(chǎn)品整機及零部件進行耐寒試驗、溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗。特別適用于進行電工、電子產(chǎn)品的環(huán)境應(yīng)力篩選（ESS）試驗。該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫速變的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用
	高低溫快速變化試驗箱 HY-408TK/GK-C	高低溫快速變化試驗箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件在高溫低溫快速變化的環(huán)境下、檢驗其各性能項指標(biāo)
	快速溫變高低溫試驗箱 HY-600TK/GK-C	快速溫變高低溫試驗箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件、重型工業(yè)、自動化零組件,汽車部件,電子電器儀表零組件、塑膠,化工業(yè),食品業(yè),制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗（沖擊
	快速溫變試驗箱 HY-225TK/GK-C	快速溫變試驗箱適用于重型工業(yè)、自動化零組件,汽車部件,電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品,塑膠,化工業(yè),食品業(yè),制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗（沖擊）
	快速溫變試驗箱 HY-1000TK/GK-C	快速溫變試驗箱適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品提供電子零組件，成品、半成品、半導(dǎo)體、化學(xué)、材料等個中環(huán)境測試整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗及應(yīng)力篩選試驗以便對試品在擬定條件下的性能、行為作出分析及評價（快速變化）.符合 MIL-STAND.IEC,JIS 測試規(guī)范
	高低溫濕熱交變試驗箱 HY-800G-L	高低溫濕熱交變試驗箱該系列產(chǎn)品適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件在高低溫或濕熱環(huán)境下、檢驗其各性能項指標(biāo)
	快速溫度變化濕熱試驗箱 HY-1000TK/GK	快速溫度變化濕熱試驗箱用途 1.適用于重型工業(yè)、自動化零組件,汽車部件,電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品,塑膠,化工業(yè),食品業(yè),制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗（沖擊）. 2.適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品提供電子零組件，成品、半成品、半導(dǎo)體、化學(xué)、材料等個中環(huán)境測試整機及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗及應(yīng)力篩選試驗以便對試品在擬定條件下的性能、行為作出分析及評價（快速變化）.符合 MIL-STAND.IEC,JIS 測試規(guī)范