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三箱式冷熱沖擊試驗箱 | 兩廂式冷熱沖擊試驗箱

產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號	產(chǎn)品簡單介紹
	冷熱沖擊試驗箱的參數(shù)指標 COK-E252T-3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
	三箱冷熱沖擊試驗箱工作原理 COK-150-3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
	冷熱沖擊試驗箱工作原理 COK-252L-3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
	冷熱沖擊試驗箱兩槽溫度沖擊 COK—150G—3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
	冷熱溫度沖擊三箱式試驗箱 COK—80T—3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
	電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗箱測試 COK-252-3H-6	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
	冷熱沖擊試驗箱工作原理 COK-408-3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
	三箱冷熱沖擊試驗箱 COK-252-3H-32	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
	冷熱沖擊循環(huán)試驗箱 COK-252-3H-88	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
	高低溫冷熱沖擊兩槽試驗箱 COK—50—3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
	高低溫冷熱沖擊兩槽式試驗箱 COK—150—3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
	冷熱溫度沖擊兩槽式試驗箱 COK—80—3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
	冷熱溫度沖擊兩槽式試驗箱 COK—100—3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
	冷熱沖擊試驗箱溫度沖擊兩槽 COK—800—3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
	冷熱沖擊試驗箱兩槽溫度沖擊 COK—408—3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
	溫度循環(huán)冷熱沖擊兩廂式 COK—150—3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，??以在短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
	溫度循環(huán)冷熱沖擊—兩廂式 COK—80—3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
	溫度循環(huán)冷熱沖擊—兩廂式 COK-150-3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
	三廂式高低溫循環(huán)冷熱沖擊 COK—408—3H	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
	廠家小型恒溫濕實驗箱制造 HY-30L-A	在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。

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