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產(chǎn)品資料

穩(wěn)科3255BQ電感測試儀1MHz LCR

穩(wěn)科3255BQ電感測試儀1MHz LCR
  • 如果您對該產(chǎn)品感興趣的話,可以
  • 產(chǎn)品名稱:穩(wěn)科3255BQ電感測試儀1MHz LCR
  • 產(chǎn)品型號:1J3255BQ
  • 產(chǎn)品展商:英國穩(wěn)科WK
  • 產(chǎn)品文檔:
     3255B/3260B系列規(guī)格書
簡單介紹
電感測試儀1J3255BQ 頻率范圍 20Hz - 1MHz
產(chǎn)品描述

電感測試儀相關(guān)介紹:

1J3255BL  頻率范圍  20Hz - 200kHz

1J3255B    頻率范圍  20Hz - 500kHz
1J3255BQ 頻率范圍  20Hz - 1MHz

0.1%基本精度(英國標(biāo)準(zhǔn))
DC Bias(直流偏壓)*高可到125A(Option)

四線式測試,可**測量極低的Rdc、Rs、L和精準(zhǔn)Q

可內(nèi)建1Amp或2Amp DC Bias 
多頻率自動測試模式
多點(diǎn)DC Bias掃頻功能
涵蓋各式測量參數(shù):Z(阻抗), L(電感), C(電容), Rac(交流電阻), Phase(相位), Q(品質(zhì)因素), D(損耗因素), Rdc(直流電阻) 
人性化直覺式操作介面,簡單易懂
測試結(jié)果列印
可透過IEEE488連線控制






測試夾具選擇

1J1020

1J1022

1J1011

介電常數(shù)測試治具

(40MHz)

液體介電常數(shù)測試治具

(30MHz)

二線制DIP測試治具

(120MHz)

1J1012

1J1024

1J1011W

二線制SMD測試治具(彈片型)

(120MHz)

二線制SMD測試治具(探針型)

(120MHz)

四線制DIP 測試治具

(120MHz)

1J1014

1J1015

1J10154

四線制SMD測試治具

(120MHz)

二線制DIP高電流測試治具

(125A)

(3MHz)


四線制DIP高電流測試治具

(125A)

(3MHz)

1J1016

1J10164

1J1023

二線制SMD高電流測試治具

(125A)

(3MHz)

四線制DIP高電流測試治具

(125A)

(3MHz)

四線制轉(zhuǎn)二線制高頻轉(zhuǎn)接頭

(120MHz)

1J1025

1J1032

1J10324

探針式測量治具

(120MHz)

二線制SMD底部電極測試夾具

四線制SMD底部電極測試夾具

1J1026

1J1027

1J1028

二線制DIP高電流測試治具

(20A)

(120MHz)

二線制DIP高電流測試治具

(40A)

(120MHz)

二線制DIP高電流測試治具

(80A)

(120MHz)

1J10264

1J10284

1J1036

四線制DIP高電流測試治具

(20A)

(120MHz)

四線制DIP高電流測試治具

(60A)

(120MHz)

二線制DIP高電流測試治具

(250A)

1J10362

1J1100

1J1031

四線制DIP高電流測試治具

(250A)

電容充放電保護(hù)單元

(3MHz)

高頻80A SMD 二線式底部接觸式轉(zhuǎn)接座

(120MHz)

1J1037

1J1001

1J1002

偏置電流夾具適配器

四轉(zhuǎn)一測試夾具

(120MHz)

四轉(zhuǎn)二測試夾具

(120MHz)

1EV1006

1EV1505

1EV1905A

四線式DIP測試治具

(1MHz)

四線式測試夾具

(3MHz)

兩線式探針型高頻測試線

(50MHz)

1EV1905X

1EVA40100

1EVA40120

兩線式探針型高頻測試線SMD

(50MHz)

精密型測試夾具

(3MHz)

SMD鑷子式高精密測試夾具

(3MHz)

1EVA40125

1EVA40150

1EVA40180

SMD鑷子式高精密測試夾具

(120MHz)

鑷子式高精密測試夾具

(尖型)

(3MHz)

鑷子式高精密測試夾具

(大型)

(3MHz)




 

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