吉時(shí)利半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng) 其它儀器是用于器件、材料和半導(dǎo)體工藝參數(shù)分析的完整解決方案。這種先進(jìn)的參數(shù)分析儀具有不可比擬的測量靈敏度和精度，同時(shí)繼承了嵌入式Windows操作系統(tǒng)和吉時(shí)利交互式測試環(huán)境，
為半導(dǎo)體科研及產(chǎn)業(yè)用戶進(jìn)行半導(dǎo)體器件特性分析提供了直觀而**的功能。
吉時(shí)利半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng) 其它儀器使用 4200A-SCS 加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 高性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。
特點(diǎn)
內(nèi)置測量視頻采用英語、中文、日語和韓語
使用數(shù)百個(gè)用戶可修改應(yīng)用測試開始您的測試
自動(dòng)實(shí)時(shí)參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、算數(shù)函數(shù)
測量、 切換、 重復(fù)。 4200A-CVIV 多通道切換模塊自動(dòng)在 I-V 和 C-V 測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產(chǎn)品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設(shè)置，并在出現(xiàn)意想不到的結(jié)果時(shí)輕松排除故障。 特點(diǎn)
無需重新布線即可將 C-V 測量移動(dòng)到任何設(shè)備終端
用戶可配置低電流功能
個(gè)性化輸出通道名稱
查看實(shí)時(shí)測試狀態(tài)
檢定、 自定義 簡單地說，4200A-SCS 可以玩全自定義且**升級，您可以對半導(dǎo)體設(shè)備、新材料、有源/無源組件、晶片級可靠性、故障分析、電化學(xué)或幾乎任何類型的樣本執(zhí)行電氣檢定和評估。 特點(diǎn)
NBTI/PBTI 測試
隨機(jī)電報(bào)噪聲
非易失內(nèi)存設(shè)備
穩(wěn)壓器應(yīng)用測試
帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案。 4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動(dòng)和半自動(dòng)晶片探測器和低溫控制器，包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。 特點(diǎn)
“點(diǎn)擊”測試定序
“手動(dòng)”探測器模式測試探測器功能
假探測器模式無需移除命令即可實(shí)現(xiàn)調(diào)試