SRG-4000易拉蓋刻線殘余量測定儀CMC KUHNKE子公司CMC KUHNKE分公司

刻痕是易拉蓋的重要部份， 刻線殘留量太厚， 開罐時拉環(huán)容易斷，殘留量??小， 密封不安全， 出現(xiàn)意外被裂甚至泄漏。至今為止，采用景深顯微鏡的系統(tǒng)取決于操作人員的技術(shù)程度， 它們用一個外加的顯示屏和測微計對刻線槽進行聚焦。由于不同的操作人員會對刻線不同地方聚焦，從而使得測量結(jié)果可重復(fù)性差， 通常會有明顯的誤差。主要產(chǎn)品：SADP露點儀|在線露點儀| 肖氏露點傳感器|肖氏露點儀|頂空分析儀|藥品殘氧儀|壓縮空氣露點儀|Mocon透氧儀|膜康透濕儀|PBI頂空分析儀|露點儀品牌|露點儀價格|露點儀批發(fā)|Hitech氧氣分析儀|Hitech熱導(dǎo)氣體分析儀|Hitech氫氣分析儀|哈奇便攜式氧分析儀|Hitech微量氧分析儀|恩特龍氧分析儀|Neutronics氧分析儀|露點儀廠家|代表處|分公司|子公司|辦事處|總代理CMC微量水分析儀總代理

QBYV的易拉蓋刻線檢測儀， 采用創(chuàng)新的方法， 結(jié)合切邊光學(xué)、激光技術(shù)及先進的軟件處理， 減少測量過程中人為的影晌。該系統(tǒng)有效地改進了檢測結(jié)果的可重復(fù)性， 系統(tǒng)直接與電腦聯(lián)接，不需要任何外圍設(shè)備如解碼qi、外設(shè)顯示屏， 因而大大減少了成本和維修費用。

SRG-4000易拉蓋刻線殘余量測定儀優(yōu)勢CMC KUHNKE子公司CMC KUHNKE分公司

● 采用激光聚焦技術(shù)

● 適用全部易拉蓋型

● 可測量易拉蓋的鉚釘直徑和厚度

SRG-4000易拉蓋刻線殘余量測定儀應(yīng)用CMC KUHNKE子公司CMC KUHNKE分公司

● 飲料易拉蓋刻痕殘余尺寸測量

● 食品易拉蓋刻痕殘余尺寸測量

SRG-4000易拉蓋刻線殘余量測定儀技術(shù)參數(shù)CMC KUHNKE子公司CMC KUHNKE分公司

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