技術(shù)文章
企業(yè)信息
第9年
- 入駐時間： 2017-04-12
- 聯(lián)系人：肖工
- 電話：010-86460119
-
聯(lián)系時，請說明易展網(wǎng)看到的
- Email：kefu185@188.com
文章詳情
絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)的技術(shù)指標(biāo)與配件參數(shù)
日期：2025-10-31 18:19
瀏覽次數(shù)：27
摘要：
絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)的技術(shù)指標(biāo)與配件參數(shù)
產(chǎn)品簡介
絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備，它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經(jīng)過長時間的測試（1~1000小時可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響。
技術(shù)指標(biāo)：
測量電壓:100 ~ 1500V（可定制）
測試通道:128通道（可定制至高960通道）
測試時長:可連續(xù)運行1500小時
測試溫度:85℃（可定制）
測試濕度:85%（可定制）
測量范圍:...
絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)的技術(shù)指標(biāo)與配件參數(shù)
產(chǎn)品簡介
絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備，它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經(jīng)過長時間的測試（1~1000小時可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響。技術(shù)指標(biāo)：
測量電壓:100 ~ 1500V（可定制）
測試通道:128通道（可定制至高960通道）
測試時長:可連續(xù)運行1500小時
測試溫度:85℃（可定制）
測試濕度:85%（可定制）
測量范圍:1×10^5 ~ 1×10^15Ω
極化電壓:100 ~ 1500V（可定制）
掃描周期:至快2分鐘（128通道）
環(huán)境試驗箱（可定制）
恒溫試驗箱：
型號：HC-80
溫度范圍：RT~＋100℃
內(nèi)部容積（L）：80
型號：HC~512
溫度范圍：RT~＋200℃
內(nèi)部容積（L）：512
迷你高低溫環(huán)境箱：
支持覆蓋超低溫范圍的較寬溫度范圍(-40℃/-70℃)至高溫范圍(+100℃/+150℃)，具備超溫保護(hù)切斷加熱斷路器功能。
型號：HC-35
溫度范圍：-40~＋100℃
內(nèi)部容積( L)：35
型號：HC-70
溫度范圍：-70~＋200℃
內(nèi)部容積（L）：70
應(yīng)用領(lǐng)域
電子材料：印BGA、CSP等節(jié)距IC封裝件；
封裝材料：助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導(dǎo)電膠等有關(guān)印刷電路板材料；
有機半導(dǎo)體：PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等；
電子元器件：電容、連接器等其他電子元器件及材料；
絕緣材料：各種絕緣材料的吸濕性特性評估。
