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Huace FE-3000鐵電分析儀的產(chǎn)品參數(shù)及測(cè)試功能 華測(cè)儀器HuaceFE-3000鐵電分析儀產(chǎn)品簡介HuaceFE-3000鐵電分析儀由華測(cè)儀器生產(chǎn)，有著寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍，可廣泛地應(yīng)用于各類鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器等研究。產(chǎn)品參數(shù)輸出范圍：±100V或±200V，可擴(kuò)展至10kV可定制內(nèi)置放大器電壓：頻率：1MHz；電流：1A內(nèi)置±100V和±200V兩種放大器準(zhǔn)確性：0.5%或更高脈沖寬度(PU發(fā)布時(shí)間：2025-10-09 14:46 點(diǎn)擊次數(shù)：32 次
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華測(cè)儀器 絕緣電阻電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)的產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)與具體應(yīng)用 華測(cè)儀器絕緣電阻電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品簡介絕緣電阻功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)由華測(cè)儀器生產(chǎn)，是一款適用于科研、材料開發(fā)、工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域設(shè)計(jì)的測(cè)試系統(tǒng)，功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)集成了測(cè)量技術(shù)、自動(dòng)化控制技術(shù)和效率高的數(shù)據(jù)分析算法，可評(píng)估各類功能材料的電學(xué)性能，可用于功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試，為材料科學(xué)家、工程師和研究人員提供強(qiáng)有力的測(cè)試支持。產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)01擴(kuò)展優(yōu)勢(shì)絕緣電阻電學(xué)綜發(fā)布時(shí)間：2025-10-09 10:29 點(diǎn)擊次數(shù)：31 次
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華測(cè)儀器 HCYD 高溫壓電系數(shù)測(cè)試儀 華測(cè)儀器HCYD高溫壓電系數(shù)測(cè)試儀產(chǎn)品簡介HCYD高溫壓電系數(shù)測(cè)試儀由華測(cè)儀器生產(chǎn)，設(shè)備采用FPGA數(shù)字技術(shù)為激振器提供穩(wěn)定的測(cè)試頻率，配合聲學(xué)與振動(dòng)公司生產(chǎn)的激振器作為振源，具備弱信號(hào)采集技術(shù)的優(yōu)勢(shì)，可用于高溫環(huán)境下的壓電系數(shù)測(cè)試。產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)1.采用更好的激振器，具備更準(zhǔn)確的振動(dòng)頻率；2.采用ADA4870驅(qū)動(dòng)技術(shù)與激振器匹配，閉環(huán)實(shí)現(xiàn)更穩(wěn)定的加載力；3.實(shí)現(xiàn)30Hz-140Hz寬范圍測(cè)量；4.減發(fā)布時(shí)間：2025-09-30 17:15 點(diǎn)擊次數(shù)：34 次
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華測(cè)儀器 半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC測(cè)試系統(tǒng) 華測(cè)儀器半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品簡介半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC測(cè)試系統(tǒng)由華測(cè)儀器生產(chǎn)，支持測(cè)試電壓可達(dá)10kV，采用冷熱臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷，測(cè)量使用低噪聲線纜，減少測(cè)試導(dǎo)線的影響，采用直流電極加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量儀表的干擾。設(shè)備在測(cè)試功能上增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試等測(cè)量功能,可在不同條件和模式下進(jìn)行連續(xù)和高速的測(cè)量，可廣泛應(yīng)用于電力、絕緣、生物分子等領(lǐng)域，用于研究材料性能發(fā)布時(shí)間：2025-09-29 18:13 點(diǎn)擊次數(shù)：37 次
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華測(cè)儀器 高壓器件介質(zhì)損耗分析系統(tǒng) 華測(cè)儀器Huace高壓器件介質(zhì)損耗分析系統(tǒng)產(chǎn)品簡介高壓器件介質(zhì)損耗分析系統(tǒng)由華測(cè)儀器生產(chǎn)，設(shè)計(jì)用來測(cè)量高壓器件（如擠包絕緣電纜）的電介損耗和阻抗（介損和功率因數(shù)）,能夠分析容性和感性負(fù)載，該系統(tǒng)操作簡單，應(yīng)用廣泛。軟件功能1.操作簡單系統(tǒng)具備自解釋圖形用戶界面，試驗(yàn)計(jì)劃，準(zhǔn)備，執(zhí)行和初次評(píng)估只需指尖就能實(shí)現(xiàn);除此以外，觸摸屏還能隔離環(huán)境的干擾,如果需要，USB鍵盤和鼠標(biāo)可以連接使用。2.序列模式序發(fā)布時(shí)間：2025-09-29 09:50 點(diǎn)擊次數(shù)：31 次
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華測(cè)儀器 Huace HV-10多通道高壓極化裝置 華測(cè)儀器HuaceHV-10多通道高壓極化裝置產(chǎn)品介紹HuaceHV-10多通道高壓極化裝置由華測(cè)儀器生產(chǎn)，裝置采用超低紋波、線性高壓直流電源，加熱電極更科學(xué)穩(wěn)定，可配合計(jì)算機(jī)控制實(shí)現(xiàn)多功能極化，此外，裝置還可以進(jìn)行功能的更多擴(kuò)展，適應(yīng)不同的試驗(yàn)場(chǎng)面，它穩(wěn)定的測(cè)量指標(biāo)使得材料極化過程中的電場(chǎng)分布更加均勻，極化效果更好。產(chǎn)品特點(diǎn)01更科學(xué)的薄膜極化方式華測(cè)儀器生產(chǎn)的多通道高壓極化裝置采用高溫度直流電發(fā)布時(shí)間：2025-09-28 11:04 點(diǎn)擊次數(shù)：43 次
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華測(cè)儀器 Huace-1000絕緣材料高溫介電性能測(cè)試設(shè)備 華測(cè)儀器Huace-1000絕緣材料高溫介電性能測(cè)試設(shè)備產(chǎn)品簡介Huace-1000絕緣材料高溫介電性能測(cè)試設(shè)備由華測(cè)儀器生產(chǎn)。和其他爐相比，紅外線反射爐節(jié)省了升溫時(shí)間和保持時(shí)間及自然降溫到室溫所需時(shí)間，在試驗(yàn)中也可改寫設(shè)定溫度值，節(jié)省試驗(yàn)時(shí)間并提高實(shí)驗(yàn)速度。同高頻爐相比，無特殊的安裝條件及對(duì)加熱試樣的要求，同電阻爐一樣安裝簡單，有降溫系統(tǒng)安心可靠，以提高試驗(yàn)人員的工作效率，實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定可靠的溫度控制發(fā)布時(shí)間：2025-09-26 14:14 點(diǎn)擊次數(shù)：45 次
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華測(cè)儀器Huace-LHD-4/8真空模擬長期電熱老化試驗(yàn)平臺(tái) 華測(cè)儀器Huace-LHD-4/8真空模擬長期電熱老化試驗(yàn)平臺(tái)產(chǎn)品簡介Huace-LHD-4/8真空模擬長期電熱老化試驗(yàn)平臺(tái)由華測(cè)儀器生產(chǎn)，能夠模擬各類工業(yè)制品、零部件以及原材料的實(shí)際生產(chǎn)、使用、儲(chǔ)存和運(yùn)輸過程中的高壓伴隨著低溫、高溫、潮濕、干燥、高低溫濕熱交變、快速溫度變化、溫度循環(huán)等環(huán)境因素的影響，可連續(xù)試驗(yàn)，高能簡便地評(píng)估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問題。產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)01節(jié)能效果超發(fā)布時(shí)間：2025-09-26 11:00 點(diǎn)擊次數(shù)：45 次
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華測(cè)儀器 半島體封裝材料高壓TSDC測(cè)試系統(tǒng) 華測(cè)儀器半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品介紹半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC測(cè)試系統(tǒng)由華測(cè)儀器開發(fā)，支持測(cè)試電壓可達(dá)10kV，采用冷熱臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷，測(cè)量使用低噪聲線纜，減少測(cè)試導(dǎo)線的影響，采用直流電極加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量儀表的干擾。設(shè)備在測(cè)試功能上增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試等測(cè)量功能,可在不同條件和模式下進(jìn)行連續(xù)和高速的測(cè)量，僅用一套TSDC測(cè)試系統(tǒng)就能實(shí)現(xiàn)眾多儀器的測(cè)量功能。產(chǎn)品發(fā)布時(shí)間：2025-09-24 11:13 點(diǎn)擊次數(shù)：34 次
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華測(cè)儀器 高低溫真空探針臺(tái)產(chǎn)品介紹 華測(cè)儀器高低溫真空探針臺(tái)產(chǎn)品簡介：華測(cè)儀器高低溫真空探針臺(tái)是一種輔助執(zhí)行機(jī)構(gòu)，測(cè)試人員把需要量測(cè)的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)上，在顯微鏡配合下，X-Y移動(dòng)器件，找到需要探測(cè)的位置，接下來通過旋轉(zhuǎn)探針座上的X-Y-Z的三向旋鈕，控制前部探針(射頻或直流探針)扎到被測(cè)點(diǎn)，從而使其訊號(hào)線與外部測(cè)試機(jī)導(dǎo)通，即可得到所需要的電性能參數(shù)。產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：1.真空-溫度協(xié)同控制真空系統(tǒng)：分子泵+渦旋泵多級(jí)抽氣，能夠支持設(shè)備發(fā)布時(shí)間：2025-09-23 11:29 點(diǎn)擊次數(shù)：37 次
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華測(cè)儀器PEA空間電荷測(cè)量儀 華測(cè)儀器PEA空間電荷測(cè)量儀產(chǎn)品簡介：華測(cè)儀器選擇新型耐高溫共聚物壓電傳感器、重新設(shè)計(jì)電極系統(tǒng)，開發(fā)了適用于高溫下(≤110℃)的PEA法空間電荷測(cè)量設(shè)備。設(shè)備能夠分析溫度對(duì)壓電傳感器性能、聲信號(hào)的傳播特性和穿過介質(zhì)特性的影響，得出對(duì)放大器輸出的電壓信號(hào)和空間電荷密度值的影響因素，進(jìn)而校正溫度對(duì)PEA測(cè)量的影響，提高測(cè)量結(jié)果的穩(wěn)定性與準(zhǔn)確性。華測(cè)儀器PEA空間電荷測(cè)量儀用于測(cè)量純環(huán)氧試樣在不同溫度發(fā)布時(shí)間：2025-09-19 16:08 點(diǎn)擊次數(shù)：42 次
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絕緣材料50點(diǎn)耐壓擊穿試驗(yàn)儀的參數(shù)與應(yīng)用 絕緣材料50點(diǎn)耐壓擊穿試驗(yàn)儀的參數(shù)與應(yīng)用絕緣材料50點(diǎn)耐壓擊穿試驗(yàn)儀由華測(cè)儀生產(chǎn)，是一款**絕緣材料電學(xué)性能檢測(cè)設(shè)計(jì)的設(shè)備。其核心用途是測(cè)量電氣用鋰電池隔膜、聚氨脂薄膜、塑料薄膜、聚丙烯薄膜等各類絕緣材料，在給定直流電壓條件下每平方米的擊穿電壓值，為絕緣材料質(zhì)量把控與性能評(píng)估提供數(shù)據(jù)支撐。絕緣材料50點(diǎn)耐壓擊穿試驗(yàn)儀操作便捷，運(yùn)行穩(wěn)定且耐用性強(qiáng)，同時(shí)配備完善的保護(hù)功能，能充分保障測(cè)試過程。儀器采用發(fā)布時(shí)間：2025-09-16 14:31 點(diǎn)擊次數(shù)：41 次
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高頻高壓絕緣電阻介電測(cè)試系統(tǒng)的原理與參數(shù) 高頻高壓絕緣電阻介電測(cè)試系統(tǒng)的原理與參數(shù)產(chǎn)品介紹該系統(tǒng)通過測(cè)量被測(cè)物絕緣各個(gè)頻率下的泄漏電流，利用數(shù)據(jù)模型對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行分析從而得到固體絕緣材料的電導(dǎo)率、絕緣油的電導(dǎo)率/介損以及參考溫度下的介損、電阻等參數(shù)，由于模型能夠補(bǔ)償溫度對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響，因此測(cè)試可在任何溫度下進(jìn)行。絕緣電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)可以用于測(cè)量電路或材料在交流信號(hào)作用下的阻抗特性的電子儀器。也可以測(cè)量直流電壓下的阻抗參數(shù)，其基本原理基于交流發(fā)布時(shí)間：2025-09-15 13:27 點(diǎn)擊次數(shù)：41 次
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功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用 功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)的應(yīng)用華測(cè)儀器生產(chǎn)的功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)HCTD3000，是一款契合科研、材料開發(fā)、工業(yè)生產(chǎn)等多領(lǐng)域需求的測(cè)試設(shè)備。該系統(tǒng)測(cè)量技術(shù)、自動(dòng)化控制技術(shù)與數(shù)據(jù)分析算法，能夠?qū)Ω黝惞δ懿牧系碾妼W(xué)性能展開評(píng)估，可實(shí)現(xiàn)鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等多項(xiàng)電學(xué)測(cè)試，為材料科學(xué)家、工程師及研究人員的工作提供有力支撐。一、產(chǎn)品核心優(yōu)勢(shì)助力多場(chǎng)景應(yīng)用（一）擴(kuò)展優(yōu)勢(shì)保障應(yīng)用此系統(tǒng)具備豐富發(fā)布時(shí)間：2025-09-12 14:08 點(diǎn)擊次數(shù)：50 次
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華測(cè)儀器熱釋電系數(shù)測(cè)量儀的基礎(chǔ)參數(shù)與應(yīng)用 華測(cè)儀器熱釋電系數(shù)測(cè)量儀的基礎(chǔ)參數(shù)與應(yīng)用華測(cè)儀器研發(fā)的熱釋電系數(shù)測(cè)量儀，憑借科學(xué)的參數(shù)設(shè)計(jì)與廣泛的應(yīng)用適配，成為材料性能測(cè)試領(lǐng)域的實(shí)用設(shè)備，為科研與生產(chǎn)環(huán)節(jié)提供有力支持。一、基礎(chǔ)參數(shù)：為測(cè)試提供穩(wěn)定保障在核心參數(shù)設(shè)計(jì)上，華測(cè)儀器熱釋電系數(shù)測(cè)量儀考慮不同測(cè)試場(chǎng)景需求，各項(xiàng)指標(biāo)兼顧實(shí)用性。測(cè)量溫度范圍覆蓋室溫至600℃，可滿足常溫到高溫環(huán)境下的材料測(cè)試需求，適配多種材料在不同溫度條件下的性能分析。電極發(fā)布時(shí)間：2025-09-11 14:27 點(diǎn)擊次數(shù)：47 次
