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電阻測(cè)量?jī)x器-多通道介電測(cè)試系統(tǒng) 多通道介電測(cè)試系統(tǒng)型號(hào)：HTDM-101、主要用于：多通道電阻、介電測(cè)試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用2、光耦繼電器，高速又耐用3、切換時(shí)間1ms4、高速I/O輸出控制LCR多路測(cè)試軟件 1、掃描、比較器針對(duì)所有通道設(shè)置測(cè)試條件（量程、頻率發(fā)布時(shí)間：2024-02-29 09:47 點(diǎn)擊次數(shù)：478 次
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關(guān)于高壓漏電起痕試驗(yàn)儀 產(chǎn)品介紹編輯發(fā)布時(shí)間：2024-01-27 16:55 點(diǎn)擊次數(shù)：462 次
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熱釋電系數(shù)測(cè)試儀工作原理及其特性概述 熱釋電系數(shù)測(cè)試儀是利用紅外線來進(jìn)行數(shù)據(jù)處理的一種儀器。主要是由一種高熱電系數(shù)的材料，如鋯鈦酸鉛系陶瓷、鉭酸鋰、硫酸三甘鈦等制成探測(cè)元件。工作原理與特性人體都有恒定的體溫，一般在37度，所以會(huì)發(fā)出特定波長(zhǎng)10UM左右的紅外線，被動(dòng)式紅外探頭就是靠探測(cè)人體發(fā)射的10UM左右的紅外線而進(jìn)行工作的。人體發(fā)射的10UM左右的紅外線通過菲泥爾濾光片增強(qiáng)后聚集到紅外感應(yīng)源上。紅外感應(yīng)源通常采用熱釋電元件，這種元發(fā)布時(shí)間：2024-01-27 16:20 點(diǎn)擊次數(shù)：988 次
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高溫四探針測(cè)試儀簡(jiǎn)介 高溫四探針測(cè)試儀簡(jiǎn)介（1）： 高溫四探針測(cè)試儀器采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器可顯示電阻、發(fā)布時(shí)間：2024-01-27 09:49 點(diǎn)擊次數(shù)：741 次
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阻抗分析儀 阻抗分析儀阻抗分析儀能在阻抗范圍和寬頻率范圍進(jìn)行**測(cè)量，它利用物體具有不同的導(dǎo)電作用，在物體表面加一固定的低電平電流時(shí)，通過阻抗計(jì)算出物體的各種器件、設(shè)備參數(shù)和性能優(yōu)劣。性能**的阻抗分析儀高兼容性：支持SCPI指令集，兼容KEYSIGHTE4980A、E4980AL、HP4284A等 ■無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。■發(fā)布時(shí)間：2024-01-08 09:23 點(diǎn)擊次數(shù)：1638 次
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電弱點(diǎn)測(cè)試儀設(shè)備參數(shù) 電弱點(diǎn)測(cè)試儀設(shè)備參數(shù)華測(cè)電弱點(diǎn)測(cè)試儀，主要應(yīng)用于新能源汽車用鋰離子電池隔膜電氣絕緣性能缺陷檢測(cè)。采用計(jì)算機(jī)控制，通過人機(jī)對(duì)話方式，HCRD-300型電弱點(diǎn)測(cè)試儀是根據(jù)1EC60674-2:2009 電氣用塑料薄膜第2部分:試驗(yàn)方法及其第1次修正和GB/T13542-2009 《電氣用塑料薄膜試驗(yàn)方法》而設(shè)計(jì)的高壓試驗(yàn)裝置。主要用于鋰離子電池隔膜、電容器用聚脂薄膜、聚丙稀薄膜的電弱點(diǎn)測(cè)試。該系列產(chǎn)品發(fā)布時(shí)間：2024-01-03 10:05 點(diǎn)擊次數(shù)：586 次
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靜電計(jì)的適用范圍 靜電計(jì)的適用范圍測(cè)量低電平直流電壓需要的功能往往遠(yuǎn)超過數(shù)字萬用表（DMM）所能提供的。一般地說，DMM的靈敏度不足以測(cè)量1100mV以下的電壓。即便在較高的電壓上，DMM的輸入壓降（voltageburden）達(dá)到幾百毫伏，因此不能準(zhǔn)確地測(cè)量電壓。靜電計(jì)能非常準(zhǔn)確地測(cè)量低電流壓，但是測(cè)量極低電壓所需的電路以及電壓、電阻和電荷測(cè)量等功能會(huì)大大增加靜電計(jì)的成本。103型靜電計(jì)結(jié)合了DMM的經(jīng)濟(jì)性和易用發(fā)布時(shí)間：2023-10-21 13:57 點(diǎn)擊次數(shù)：535 次
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熱激勵(lì)去極化電流的原理和特征TSDC/TSC 熱激勵(lì)去極化電流的原理和特征TSDC/TSC熱激勵(lì)去極化電流（thermallystimulateddepolarizationcurrents,簡(jiǎn)寫為TSDC或TSC）是電介質(zhì)材料在受熱過程中建立極化態(tài)或解除極化態(tài)時(shí)所產(chǎn)生的短路電流。試樣的去極化電流隨溫度的變化關(guān)系，即為TSDC譜。通過研究TSDC譜可以了解電介質(zhì)材料中偶極子和可動(dòng)離子的性質(zhì)、激活能（或陷阱深度）、以及弛豫時(shí)間（壽命）等。原理：發(fā)布時(shí)間：2023-09-22 15:26 點(diǎn)擊次數(shù)：754 次
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多通道飛安電流采集系統(tǒng)的介紹 多通道飛安電流采集系統(tǒng)的介紹系統(tǒng)構(gòu)成：本多通道弱信號(hào)采集系統(tǒng)由1KV直流高壓模塊、fA電流采集卡、控制主板及PC上位機(jī)夠成的測(cè)試系統(tǒng)。其中由上位機(jī)軟件，主板控制10只獨(dú)立的直流高壓模塊進(jìn)行升壓、降壓及關(guān)斷高壓輸出。同時(shí)fA級(jí)電流采集卡發(fā)送采集的電流傳給控制主板。同時(shí)由主板控制自動(dòng)進(jìn)行不同電流檔位的轉(zhuǎn)換。主板集中采集的電流集號(hào)發(fā)送給上位機(jī)。10個(gè)通道獨(dú)立運(yùn)行，互不影響。ADA4530-1是一種飛安級(jí)發(fā)布時(shí)間：2023-09-22 15:25 點(diǎn)擊次數(shù)：474 次
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高壓化裝置簡(jiǎn)介及優(yōu)勢(shì) 高壓化裝置簡(jiǎn)介及優(yōu)勢(shì)華測(cè)HCHV系列高壓化電源是高性能機(jī)箱式高壓電源，具有完善的保護(hù)系統(tǒng)。可遙控或本地控制，面板有電壓、電流顯示，高壓輸入端過壓、過流、短路保護(hù)、拉弧、過溫保護(hù)和**鎖等功能。寬范圍調(diào)整和靈活的多項(xiàng)可選功能。HCHV系列是一種高性能、高可靠性、高品質(zhì)的直流高壓電源由于我們的高壓電子技術(shù)積累了多年。更適合材料電學(xué)高壓試驗(yàn)與材料檢測(cè)。目前，對(duì)高壓放大器的需求越來越大越來越多，現(xiàn)在已經(jīng)成發(fā)布時(shí)間：2023-09-22 15:24 點(diǎn)擊次數(shù)：475 次
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熱釋電系數(shù)測(cè)試儀設(shè)計(jì)原理 熱釋電系數(shù)測(cè)試儀設(shè)計(jì)原理熱釋電系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)基于熱釋電動(dòng)態(tài)電流法設(shè)計(jì),由溫度控制器、加熱爐體、微電流放大器、溫度測(cè)試儀以及計(jì)算機(jī)軟件系統(tǒng)組成。溫度控制器控制加熱爐體內(nèi)部溫度;樣品的電流信號(hào)通過微電流放大器、輸入到計(jì)算機(jī);而溫度信號(hào)則直接通過溫度測(cè)試儀傳送到計(jì)算機(jī)。能測(cè)量具有熱釋電性能的單晶、陶瓷、厚膜及薄膜材料樣品, 適用范圍廣。本試驗(yàn)儀器采用動(dòng)態(tài)電流法測(cè)量壓電陶瓷材料的熱釋系數(shù)，測(cè)熱釋電系數(shù)測(cè)試系發(fā)布時(shí)間：2023-09-22 15:23 點(diǎn)擊次數(shù)：518 次
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華測(cè)低壓漏電起痕測(cè)試儀的使用范圍與參數(shù) 華測(cè)低壓漏電起痕測(cè)試儀的使用范圍與參數(shù)低壓漏電起痕測(cè)試儀使用范圍：低壓漏電起痕測(cè)試儀適用于照明設(shè)備、低壓電器、家用電器、機(jī)床電器、電機(jī)、電動(dòng)工具、電子儀器、電工儀表、信息技術(shù)設(shè)備的研究、生產(chǎn)和質(zhì)檢部門，也適用于絕緣材料、工程塑料、電氣連接件、輔件行業(yè)也適用于電氣能力驗(yàn)證計(jì)劃與技術(shù)研討會(huì)中的有關(guān)CHEARI-PTO03耐電痕化指數(shù)測(cè)試。低壓漏電起痕測(cè)試儀設(shè)備參數(shù)：控制系統(tǒng)：西門子PLC+觸摸屏控制系發(fā)布時(shí)間：2023-09-22 15:22 點(diǎn)擊次數(shù)：455 次
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華測(cè)鋰離子隔膜用電弱點(diǎn)測(cè)試儀的技術(shù)防護(hù) 華測(cè)高duan鋰離子隔膜用電弱點(diǎn)測(cè)試儀的技術(shù)防護(hù)華測(cè)生產(chǎn)的鋰離子隔膜用電弱點(diǎn)測(cè)試儀經(jīng)過嚴(yán)酷的實(shí)踐驗(yàn)證，穩(wěn)定可靠。該系列產(chǎn)品的主要元器件均選用品牌(如歐姆龍，美信，ABB等)，有效地保證了設(shè)備的可靠性、耐用性和穩(wěn)定性。測(cè)量準(zhǔn)確，復(fù)現(xiàn)性好。測(cè)試過程采用電子技術(shù)全自動(dòng)控制，遇到電弱點(diǎn)時(shí)電壓切斷動(dòng)作迅速。擊穿電流在0~40mA連續(xù)可調(diào)，復(fù)現(xiàn)性好。本機(jī)具備多重保護(hù)功能，充分考慮了操作人員及設(shè)備的可靠性。如過發(fā)布時(shí)間：2023-09-22 15:18 點(diǎn)擊次數(shù)：571 次
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憶阻器 憶阻器 憶阻器英文名為memristor,用符號(hào)M表示，與電阻R，電容C，電感L構(gòu)成四種基本無源電路器件，它是連接磁通量與電荷之間關(guān)系的紐帶，其同時(shí)具備電阻和存儲(chǔ)的性能，是一種新一代高速存儲(chǔ)單元，通常稱為阻變存儲(chǔ)器（RRAM）。 憶阻器備受關(guān)注的重要應(yīng)用領(lǐng)域包括：非易失存儲(chǔ)（Nonvolatilememory），邏輯運(yùn)算（Logiccomputing），以及類腦神經(jīng)形態(tài)計(jì)算（Brain-ins發(fā)布時(shí)間：2023-09-22 15:17 點(diǎn)擊次數(shù)：812 次
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華測(cè)耐電弧強(qiáng)大的系統(tǒng)功能 華測(cè)耐電弧強(qiáng)大的系統(tǒng)功能耐電弧試驗(yàn)系統(tǒng)是**為電氣絕緣材料測(cè)試而開發(fā)的高精密設(shè)備。系統(tǒng)搭配Labview系列開發(fā)的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行電壓、電流、電弧時(shí)間等設(shè)置，符合電氣絕緣材料與新材料測(cè)試多樣化的需求。耐電弧試驗(yàn)系統(tǒng)采用*******TVS高壓保護(hù)系統(tǒng)，保證試驗(yàn)人員設(shè)備的性；采用***SPWM電阻升壓技術(shù)，電壓輸出穩(wěn)定性好。配備高精度電壓、電流傳感器以保證試驗(yàn)數(shù)據(jù)的有發(fā)布時(shí)間：2023-09-22 15:16 點(diǎn)擊次數(shù)：418 次
