本設(shè)備操作簡(jiǎn)單，放置樣品即可測(cè)量的。一步到位。

縮短檢查工程，無標(biāo)準(zhǔn)曲線，精度高，分辨率高，輕松測(cè)量樣品的**厚度。

光學(xué)方式為大冢電子**，不僅外形小巧，無論透明?粗糙還是易變形的樣品，都可以實(shí)現(xiàn)非接觸式的高精度測(cè)量。

產(chǎn)品信息

特長(zhǎng)

• 非接觸式測(cè)量不透明、粗糙，易變形的樣品

• 反復(fù)性?再現(xiàn)性高

• 無標(biāo)準(zhǔn)曲線也可知道**厚度

• 測(cè)量徑很小，不受斑點(diǎn)的影響

• 樣品位置無需調(diào)整，放進(jìn)去即可。

• 穩(wěn)定性高，不會(huì)產(chǎn)生誤差，所以誰都能操作。

• 光學(xué)方式原理所以**

式樣

構(gòu)成圖?原理

構(gòu)成圖

任何人都會(huì)測(cè)量

原理

將光分別照射樣品上下部
測(cè)量距離基準(zhǔn)面的距離。
d=dall-(d1+d2)

比較測(cè)量方法

樣品例子和測(cè)量方法的比較

測(cè)量案例