企業(yè)信息
    
        第9年
    
   
    - 入駐時(shí)間: 2017-03-06
 - 聯(lián)系人:張婧
 - 電話:0512-67089211
 - 
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                            產(chǎn)品詳情
                        
                        
            簡單介紹:
        
        
            SF-3Rθ
   OTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng)
搭載模式匹配功能,是X-Y定位精度2um以下的系統(tǒng)。OTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng)SF-3RθOTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng)SF-3RθOTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng)SF-3Rθ
        
    
            詳情介紹:
        
        
            SF-3Rθ
	
		
	
		
    OTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng)
	
搭載模式匹配功能,是X-Y定位精度2um以下的系統(tǒng)。
	
	特 長
- 
		提供微細(xì)圖案,提供溫厚和各種厚度信息
實(shí)現(xiàn)高精度X-Y定位舞臺(tái)(注2μm以下),實(shí)現(xiàn)高精度的定位
MEMS和傳感器設(shè)備等對(duì)應(yīng)6英寸韋哈
(Options):8和12英寸
除了晶片形狀以外也可以對(duì)應(yīng)
 
	測定項(xiàng)目
- パターン付きウェーハ
 - シリコンウェーハ、SiC、GaN、各種化合物ウェーハ
 - テンポラリーウェーハ
 
スペック
	スペック
				  
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	構(gòu)成図
	
 
	測定例
■貼り合わせウェーハ(Si/ボンディング/サポート基板)
				  
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					Si膜厚分布(約25μm)  | 
		
				  
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| ボンディング膜厚分布(約25μm) | 
	
OTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng)SF-3RθOTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng)SF-3RθOTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng)SF-3RθOTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng)SF-3RθOTSUKA大冢-晶片厚度映射系統(tǒng)SF-3Rθ
                    

    
 
			
 
			
 
			
 
			
 
			
 
			