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產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱：OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計

  • 產(chǎn)品型號：
  • 產(chǎn)品廠商：OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價格：0
  • 折扣價格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡單介紹：
OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計
詳情介紹：
FE-5000
特　長
  • フィルムなどの面內(nèi)膜厚ムラ検査、**を高速?高精度に測定
  • ハード?ソフト共にオリジナル設(shè)計
  • 膜厚測定の専門メーカーだからできる充実サポート
  • 分光測定による高精度な膜厚測定（特許取得）
  • 高速に測定が可能（500萬ポイント以上/分）OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計OTSUKA大冢-卓上型線掃描膜厚計

 

ラインスキャンのイメージ
300mm角の分光データを瞬時に解析し**ムラ検査?膜厚測定を可能に

仕様

測定項目 膜厚（FFT）
位置分解能 1mm 以下
測定サイズ *大250mm幅 × 長さ制限なし
波長範囲 400 ～ 920nm
1素子當たりの波長幅 約 0.6nm
膜厚測定範囲 2 ～ 250μm
測定間隔 10msec ～
裝置サイズ W600 × D680 × H1250mm



測定例

250mm幅のフィルムの場合

300mm幅のフィルムの場合

 

解析結(jié)果例：ソフト畫面


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