HeLeeX E8是一款專門RoHS檢測(cè)儀器，其核心光路系統(tǒng)集合國(guó)內(nèi)外幾十年EDXRF**技術(shù)，核心部件采用美國(guó)進(jìn)口，軟件算法采用美國(guó)EDXRF前沿技術(shù)，儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有權(quán)威第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)報(bào)告；HeLeeXE8精密度高、準(zhǔn)確度、檢出限等技術(shù)參數(shù)**超過國(guó)內(nèi)外同類儀器。
RoHS檢測(cè)儀器外形特點(diǎn)：
儀器結(jié)構(gòu)采用人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，儀器兩側(cè)按**手臂長(zhǎng)度設(shè)計(jì)，方便移動(dòng)、搬運(yùn)。
上蓋傾斜6度角，寓意對(duì)客戶的尊重。 表面采用**汽車噴漆工藝，采用寶藍(lán)、雅致白搭配，藍(lán)色代表科技，白色代表圣潔，寓意對(duì)科學(xué)的敬仰。
輻射防護(hù)：
樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽X射線。
輻射標(biāo)志警示。
迷宮式結(jié)構(gòu)，防止射線泄漏。
**連鎖設(shè)計(jì)；測(cè)試過程中誤打開樣品蓋時(shí)，電路0.1μS快速切斷X射線。
儀器經(jīng)權(quán)威第三方檢測(cè)，X射線劑量率完全符合GB18871-2002《電離輻射防護(hù)與輻射源**基本標(biāo)準(zhǔn)》。
硬件技術(shù)：
超短光路設(shè)計(jì)：提高無鹵檢測(cè)分辨率，提高樣品分析效率，降低光管功率，延長(zhǎng)儀器使用壽命。
模塊化準(zhǔn)直器，根據(jù)分析元素，配備不同材質(zhì)準(zhǔn)直器，從而降低準(zhǔn)直器對(duì)分析元素的影響，提高元素分辨率。
空氣動(dòng)力學(xué)設(shè)計(jì)，加速光管冷卻，有效降低儀器內(nèi)部溫度；靜音設(shè)計(jì)。
電路系統(tǒng)符合EMC、FCC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
**技術(shù)快拆樣品盤，更換薄膜更方便。
軟件技術(shù)：
分析元素：Na~U之間元素。
分析時(shí)間：60~400秒。
配置RoHS檢測(cè)分析模型，無鹵分析模型。
軟件界面簡(jiǎn)潔，模塊化設(shè)計(jì)，功能清晰，易操作。
HeLeeX ED Workstation V3.0軟件擁有數(shù)據(jù)一鍵備份，一鍵還原功能，保護(hù)用戶數(shù)據(jù)**。
HeLeeX ED Workstation V3.0根據(jù)不同基體樣品，配備三種算法，增加樣品測(cè)試精準(zhǔn)度。
HeLeeX ED Workstation V3.0配備開放式分析模型功能，客戶建立自己的工作模型。
儀器規(guī)格:
外形尺寸 ：380 mm x 510mm x 365 mm （長(zhǎng)x寬x高）
樣品倉(cāng)尺寸 ：360mm×330 mm ×50 mm （長(zhǎng)x寬x高）
儀器重量 ：33.5kg
供電電源 ：AC220V/ 50Hz
*大功率 ：330W
工作溫度 ：15-30℃
相對(duì)濕度 ：≤85%，不結(jié)露
RoHS檢測(cè)儀器探測(cè)器
類型：X-123 Si-PIN探測(cè)器（采用原裝進(jìn)口高性能電致冷半導(dǎo)體探測(cè)器）
Be窗厚度：1mil
晶體面積：25mm2
*佳分辨率：145eV
RoHS檢測(cè)儀器X射線管
電 壓 ：0~50kV
*大電流 ：2.0mA
*大功率 ：50W
靶 材 ：Mo
Be窗厚度 ：0.2mm
使用壽命 ：大于2萬小時(shí)
高壓電源
輸出電壓：0~50kV
燈絲電流：0~2mA
*大功率：50W
紋波系數(shù)：0.1%（p-p值）
8小時(shí)穩(wěn)定性：0.05%
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