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第9年
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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
XNY-MH11光學(xué)膜層厚度測量儀 其可測量薄膜厚度在1nm到1mm之間，測量精度高達(dá)1埃，測量穩(wěn)定性高達(dá)0.7埃，測量時間只需一到二秒, 并有手動及自動機(jī)型可選。高校勻漿機(jī)??多頭磁力攪拌器生產(chǎn)???恒溫油浴鍋加工???學(xué)校循環(huán)低溫水槽???院校脫色搖床??生化培養(yǎng)箱定做???低溫恒溫槽廠家??產(chǎn)品老化試驗箱??科研人工氣候箱??攪拌器非標(biāo)加工???培養(yǎng)箱定制???恒溫恒濕干燥箱尺寸??高校水浴鍋???實驗室振蕩器
詳情介紹：
- XNY-MH11光學(xué)膜層厚度測量儀
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XNY-MH11光學(xué)膜層厚度測量儀
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