企業(yè)信息
第9年
- 入駐時間： 2016-09-29
- 聯(lián)系人：彭厚芹
- 電話：010-67868591
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聯(lián)系時，請說明易展網(wǎng)看到的
- Email：phq@kitazaki.cn
產(chǎn)品目錄
- ISOLOC德國
- EIKO宇科
- GRPTOPS瑞士
- RHOSONICS荷蘭 羅森尼克斯
- ASHCROFT美國雅斯科
- ALDAK瑞士
- A-M Systems美國
- Airtrol美國
- PASCAL帕斯卡
- MISTUBISHI三菱
- TOSEI東靜
- OLEOCON土耳其
- AIHARADENKI相原電機
- URAS-TECHNO村上精機
- DINEL捷克
- YAMADA DOBBY
- TOGNELLA意大利多利拿
- CLAVEL法國
- EAGLESTARS二村
- SUGIDEN杉山電機
- Kashiyama樫山工業(yè)
- 機器人質(zhì)量比較儀
- METTLER TOLEDO 梅特勒托利多
- ASAHI-SPECTRA
- DRE東榮電子
- DAIICHI NEKKEN CO.,LTD. **熱研
- DIC迪愛生
- SES-STERLING法國
- STAUBLI瑞士史陶比爾
- Di-soric德國
- OPTRIS德國
- SERIC索萊克
- Fujikin富士金
- SANKO三高
- WAGO德國
- NPM日本脈沖
- 美國FLUKE福祿克
- TSI
- LINTEC林泰克
- RION理音
- BRUKER布魯克
- hamamatsu濱松光子
- KKIMAC萊馬克
- NIPPON GEAR日本齒輪
- MIYACHI天田
- S-VANS斯萬斯
- YODOGAWA淀川
- YUTAKA優(yōu)塔卡
- YAMADA雅瑪達
- NS日本精密科學(xué)
- Kakuhunter寫真化學(xué)
- MITUTOYO三豐
- MIYUKI美幸輝
- NOHKEN能研
- IWAKI易威奇
- NAGANO KEIKI長野計器
- THINKY日新基
- OHAUS奧豪斯
- SIBATA柴田
- TOKISANGYO東機產(chǎn)業(yè)
- NFK南國工業(yè)
- TOADKK東亞電波
- CCS晰寫速
- TOPCON拓普康
- METTLER梅特勒
- FUNATECH船越龍
- INFLIDGE英富麗
- AND愛安德
- ZAYTRAN
- RlKEN KElKl理研
- EABRA荏原
- DAIICHI NEKKEN**熱研
- ISHIZAKI石崎
- SONOSABER本多
- AIRTECH安泰
- TAISEIKIKO大成機工
- CHROMA致茂
- OSAWA大澤
- FORTUNE富創(chuàng)制作所
- TOAGOSEI東亞合成
- KEYSIGHT是德
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- AIKOH愛科
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- TAIHO大鵬
- PHOTRON活圖隆
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- EIWA永和
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- HELLERMANN TYTON海爾曼太通
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- YOKOHAMARIKA橫濱
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- MUTOH武藤
- TAKASAGO高砂
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- SAKAI酒井
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- FUJITSU富士通
- YOKOGAWA橫河
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- YUTAKA杉本
- NIKUNI尼可尼
- KRONE克朗
- IMADA 今田
- BEAT SENSE
- BROOKS 布魯克斯
- THOMAS 托馬斯
- KDN京都電機
- SAITOHK 齊藤光學(xué)
- DENGENSHA TOA電源
- TSUBAKI 椿本
- 北崎現(xiàn)貨
- ISOWATEC沃森-馬洛
- MIYAWAKI日本
聯(lián)系我們
聯(lián)系人：彭厚芹
聯(lián)系電話：010-67868591移動電話：13910926753 13910916953 15510102388
公司地址：北京市朝陽區(qū)住邦2000商務(wù)中心1號樓A座406B
Email：phq@kitazaki.cn
公司網(wǎng)址：http://www.kitazaki.com.cn
產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
膜厚計測*大 300 mm 的晶圓涂層厚度，自動對位功能和使用具有高平整度的晶圓卡盤可實現(xiàn)可靠的薄膜厚度測量。
詳情介紹：
長處
映射涂層測厚儀能夠在*大 300 mm 的晶圓的所有表面上自動映射膜厚測量。 自動對位功能和使用具有高平整度的晶圓卡盤可實現(xiàn)可靠的薄膜厚度測量。 此外，它可以安裝在半導(dǎo)體制造設(shè)備的負(fù)載端口，以在保持清潔度的同時管理制造設(shè)備上的薄膜厚度。
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能夠?qū)?大 300 mm 的晶圓的整個表面進行自動涂層厚度映射測量
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自動對位功能
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通過使用具有高平整度的晶圓卡盤，提高晶圓表面的測量可靠性
- 通過自動檢測缺口和無花柱位置，以及自動檢測晶圓偏心率，實現(xiàn)高精度測量。
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可根據(jù)應(yīng)用選擇三種類型的光源。
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透明蓋，便于在測量過程中查看運動
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一體化節(jié)省空間的設(shè)計
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測量數(shù)據(jù)示例（2D 膜厚分布）層壓晶圓的硅
厚度 （nm）
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測量數(shù)據(jù)示例（3D 薄膜厚度分布）層壓晶圓的硅厚度
（nm）
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測量數(shù)據(jù)示例（薄膜厚度的頻率分布）層壓晶圓中的硅厚度
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測量數(shù)據(jù)示例（多個晶圓的膜厚分布箱線圖）5 個晶圓的膜厚分布趨勢
