日本HIOKI日置阻抗分析儀IM3570，聯(lián)系周浩潔 日本HIOKI日置阻抗分析儀IM3570，聯(lián)系周浩潔 日本HIOKI日置阻抗分析儀IM3570，聯(lián)系周浩潔
1臺儀器實現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查 ● 1臺儀器實現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查 ● LCR模式下*快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量 ● 基本精度±0.08%的高精度測量 ● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量 ● 分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量 ● 可以用于無線充電評價系統(tǒng)TS2400 主機不標(biāo)配治具。請根據(jù)您的需求選擇選件中的治具和探頭。