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漏電起痕化指數(shù)測(cè)試儀技術(shù)要求?

日期:2025-10-29 00:13
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摘要: 漏電起痕測(cè)試儀(電痕化指數(shù)試驗(yàn))是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸 ( 2mm×5mm ) 的鉑電極之間,施加某一電壓并定時(shí)(30s) 定高度( 35mm )滴下規(guī)定液滴體積的導(dǎo)電液體(0.1%NH 4 CL) ,用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電性能,測(cè)定其相比電痕化指數(shù)(CT1)和耐電痕化指數(shù)(PT1) 。

漏電起痕測(cè)試儀(電痕化指數(shù)試驗(yàn))是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸 ( 2mm×5mm ) 的鉑電極之間,施加某一電壓并定時(shí)(30s) 定高度( 35mm )滴下規(guī)定液滴體積的導(dǎo)電液體(0.1%NH 4 CL) ,用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料表面在電場(chǎng)和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電性能,測(cè)定其相比電痕化指數(shù)(CT1)和耐電痕化指數(shù)(PT1)


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