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涂層測(cè)厚儀使用問(wèn)題？

發(fā)布時(shí)間：2013-10-24

1。為什么不要有時(shí)儀表是準(zhǔn)確的嗎?
這是一個(gè)更普遍的問(wèn)題。因?yàn)檫@樣的原因是多種多樣的工具。單一的涂層測(cè)厚儀,主要有以下幾個(gè)原因造成不準(zhǔn)確的量測(cè)。
(1)強(qiáng)磁場(chǎng)的干擾。我們做了一個(gè)簡(jiǎn)單的實(shí)驗(yàn),當(dāng)電磁場(chǎng)在儀表在10000 V,量測(cè)會(huì)受到嚴(yán)重的干擾。如果從電磁場(chǎng)非常親密和崩潰的現(xiàn)象會(huì)出現(xiàn)。
(2)人為因素。在這種情況下常常發(fā)生在新用戶。涂層測(cè)厚儀可以量測(cè)微米級(jí),因?yàn)樗梢詭〈磐ǖ淖兓?并把它變成數(shù)字信號(hào)。該儀表使用過(guò)程中的量測(cè)儀表如果用戶不熟悉探針可能偏離身體才能測(cè)試,量測(cè)誤差的通量變化。建議用戶朋友使用這個(gè)儀表**次,所以需要掌握量測(cè)方法。放置探針有較大影響的量測(cè),量測(cè)應(yīng)保持探針和樣品表面在垂直。和傳感器放置時(shí)間不宜太長(zhǎng),以免引起襯底本身的干擾磁場(chǎng)。
(3)沒(méi)有選用適當(dāng)?shù)囊r底在系統(tǒng)校準(zhǔn)。矩陣*小平面7毫米,*小厚度為0.2 mm,低于臨界條件的量測(cè)是不可靠的。
(4)附件質(zhì)量。該儀表對(duì)那些阻礙探針接觸密切與涂層表面粘附材料敏感。所以你必須去除粘附材料,確保探頭直接接觸涂層表面。在校準(zhǔn)系統(tǒng),選用表面的襯底必須暴露、光滑。
(5)儀表故障。在這個(gè)時(shí)間可以交流的技術(shù)人員或返回工廠維修。
2。量測(cè)過(guò)程中,為什么有時(shí)出現(xiàn)明顯偏差的量測(cè)?
量測(cè)過(guò)程中由于傳感器位置不正確或干擾因素可能會(huì)引起較大的量測(cè)數(shù)據(jù)明顯。
刪除數(shù)據(jù)才能保持卡爾關(guān)鍵避免進(jìn)入數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)。
3。如何校準(zhǔn)系統(tǒng)?
校準(zhǔn)方法,類型,這是新用戶會(huì)經(jīng)常遇到的問(wèn)題。系統(tǒng)校準(zhǔn),零校準(zhǔn)和校準(zhǔn)實(shí)際上是寫在手冊(cè),用戶只需要仔細(xì)閱讀。重要的是要注意,在校準(zhǔn)鐵基是*好的量測(cè)幾次為了防止誤操作;系統(tǒng)的校準(zhǔn)樣品訂單自童年。如果個(gè)人標(biāo)準(zhǔn)塊失蹤可以找到它的類似樣品的數(shù)值結(jié)果相反。
4。如何選用合適的儀表模型?
選用什么是*好的類型的儀表,量測(cè)物體的厚度根據(jù)用戶來(lái)決定。一般來(lái)說(shuō)在量測(cè)對(duì)象在1200嗯*好選用MC - 2000 a型,模型的厚度為0 ~ 1200微米精度已達(dá)到2%~3%,這是值得在100微米的厚度也可以很好的保證量測(cè)的精度。如果量測(cè)物體厚度在1200 ~ 5000微米,我們建議MC - 2000 c型測(cè)厚儀。更厚的會(huì)選用MC - 2000 d增強(qiáng)的測(cè)厚儀。
5。引導(dǎo)有時(shí)干擾是什么原因?
開(kāi)機(jī)后屏幕出現(xiàn)儀表狀態(tài)箭又無(wú)法衡量,儀表的干擾。
主要有兩個(gè)原因:
(1)過(guò)于接近探頭從鐵基當(dāng)手機(jī)開(kāi)機(jī),因?yàn)殍F基磁性干擾的影響。
(2)沒(méi)有好的探針或探頭線損壞。

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