什么是負(fù)載校準(zhǔn)，負(fù)載校準(zhǔn)應(yīng)注意哪些？

答：負(fù)載校準(zhǔn)是一種的**的儀器校準(zhǔn)方法，可以使儀器在高于儀器原有準(zhǔn)確度的基礎(chǔ)上測量元件，主要用于下面兩種情況：(1)當(dāng)有更準(zhǔn)確的元件并需對同規(guī)格元件進(jìn)行更高準(zhǔn)確度的測量。

(2)、統(tǒng)一現(xiàn)場所有LCR數(shù)字電橋的測試數(shù)據(jù)。

(3)、使用負(fù)載校準(zhǔn)可以使儀器在更高精度下測試。

 有些LCR數(shù)字電橋選配GPIB接口有什么作用？

答： 儀器通過GPIB接口和電腦相連，編寫相應(yīng)的軟件，可以實(shí)現(xiàn)用電腦控制儀器，進(jìn)行自動測量。

 為什么L或C設(shè)置了,還不能進(jìn)行分選(還是判斷為不合格)?

答：儀器分選必須主副參數(shù)的極限標(biāo)準(zhǔn)同時設(shè)置,如只滿足其中一個條件還是會判斷為不合格。

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