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下載文件詳細(xì)資料
  文件名稱:  英國(guó)ABI-DT5000C電路板故障檢測(cè)儀產(chǎn)品資料
  公司名稱:  北京金三航科技發(fā)展有限公司
  下載次數(shù):   1470
  文件詳細(xì)說(shuō)明:
 
電路板故障檢測(cè)儀主要測(cè)試功能:
V-I曲線測(cè)試功能
數(shù)字示波器功能
Active主動(dòng)測(cè)試功能
FirmFlex信號(hào)強(qiáng)度測(cè)試功能
 
 
彩色液晶顯示
2路V-I曲線實(shí)時(shí)對(duì)比測(cè)試
雙20路V-I曲線對(duì)比測(cè)試
40路V-I曲線存儲(chǔ)對(duì)比測(cè)試
四個(gè)數(shù)字輸入通道
雙同步脈沖信號(hào)
輔助腳踏開(kāi)關(guān)
USB通訊接口
PC軟件存儲(chǔ)對(duì)比記錄
 
電路板故障檢測(cè)儀V-I曲線測(cè)試功能:
 
同時(shí)對(duì)比2個(gè)通道的V-I曲線,自動(dòng)判斷相似度,可以自行設(shè)定相似度的百分比判定標(biāo)準(zhǔn),系統(tǒng)會(huì)判定PASS/FAIL.
自動(dòng)或手動(dòng)切換測(cè)量電壓,并可設(shè)定切換速度.
可搭配Multiway通道針對(duì)40管腳內(nèi)的元器件做V-I曲線測(cè)量記錄,并可進(jìn)行20*2的雙通道對(duì)比測(cè)試.
二個(gè)同步脈沖信號(hào)輸出,配合V-T功能針對(duì)MOS或SCR等晶閘管進(jìn)行功能測(cè)試.
http://www.17.net.cn/main/listproduct6121.html
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