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下面4類設(shè)定的條件中可以任意組合為多達(dá)百種測(cè)試條件，保證了測(cè)試的可靠性
1）3種掃描波形：正弦波、三角波、鋸齒波
2）6種掃描頻率:100Hz、200 Hz、500 Hz、1KHz、2KHz、5KHz
3）多種掃描電壓：±20V、±10V、±4V、±2V；每檔掃描電壓可以1V步進(jìn)調(diào)整；可以設(shè)定為非對(duì)稱掃描電壓
4）3種源電阻:1KΩ、10KΩ、100KΩ
設(shè)定的條件中可以任意組合，可以設(shè)定為多達(dá)百種測(cè)試條件，保證了測(cè)試的可靠性
2種掃描類型：
1）矩陣掃描：以每個(gè)管腳為公共端，其他管腳對(duì)公共端的掃描。
2）常規(guī)掃描：以某個(gè)管腳為公共端，其他管腳對(duì)這個(gè)管腳的掃描。
矩陣掃描測(cè)試-可以查看到元器件管腳之間的動(dòng)態(tài)阻抗圖，測(cè)試結(jié)果信息詳細(xì)，是元件檢測(cè)***的測(cè)試。
4種掃描循環(huán)形式：
單次：根據(jù)所設(shè)的測(cè)試條件，只進(jìn)行一次掃描。
循環(huán)：根據(jù)所設(shè)的測(cè)試條件，永遠(yuǎn)循環(huán)測(cè)試掃描
循環(huán)到PASS：根據(jù)所設(shè)的測(cè)試條件，循環(huán)到元件測(cè)試通過后停止。
循環(huán)到FAIL：根據(jù)所設(shè)的測(cè)試條件，循環(huán)到元件測(cè)試失敗后停止。
集成電路測(cè)試儀